[实用新型]一种氧化物薄膜晶体管阵列基板有效

专利信息
申请号: 202221891871.3 申请日: 2022-07-21
公开(公告)号: CN218769535U 公开(公告)日: 2023-03-28
发明(设计)人: 陈宇怀 申请(专利权)人: 福建华佳彩有限公司
主分类号: H01L27/12 分类号: H01L27/12;H01L21/77;G02F1/1362;G02F1/1368
代理公司: 福州市京华专利代理事务所(普通合伙) 35212 代理人: 范小清
地址: 351100 福*** 国省代码: 福建;35
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摘要:
搜索关键词: 一种 氧化物 薄膜晶体管 阵列
【权利要求书】:

1.一种氧化物薄膜晶体管阵列基板,其特征在于:包括:

基板;

第一金属层,设于所述基板上;

第一绝缘层,设于所述第一金属层上;所述第一绝缘层还开设有第一通孔,从所述第一通孔露出所述第一金属层上表面;

有源层,设于所述第一绝缘层上;

第二金属层,设于所述有源层上,且通过所述第一通孔和所述第一金属层连接;

第二绝缘层,设于所述第二金属层上;

第三绝缘层,设于所述第二绝缘层上;

第一ITO层,设于所述第三绝缘层上,并位于TFT的公共电极搭接区;

第四绝缘层,设于所述第一ITO层上方,并在公共电极搭接区开设有第二通孔,从所述第二通孔露出所述第一ITO层的上表面;所述第四绝缘层在TFT的漏极区还开设有第三通孔,从所述第三通孔露出所述第二金属层上表面;所述第四绝缘层在TFT上方的无效区还开设有凹槽区;所述第四绝缘层在TFT与TFT之间开设有隔断区;其中,0<所述凹槽区的深度≤所述第四绝缘层的厚度;0<所述隔断区的深度≤所述第四绝缘层的厚度;

第三金属层,设于所述第四绝缘层上对应TFT的公共电极搭接区,并通过所述第二通孔和所述第一ITO层连接;

第二ITO层,和所述第三金属层位于同一水平,并通过所述第三通孔和漏极区的所述第二金属层连接。

2.根据权利要求1所述的一种氧化物薄膜晶体管阵列基板,其特征在于:所述凹槽区的深度=所述第四绝缘层的厚度;

所述隔断区的深度=所述第四绝缘层的厚度。

3.根据权利要求2所述的一种氧化物薄膜晶体管阵列基板,其特征在于:所述凹槽区的底部和隔断区的底部分别设有垫层,所述垫层和所述第一ITO层位于同一水平面。

4.根据权利要求1所述的一种氧化物薄膜晶体管阵列基板,其特征在于:所述第一金属层采用夹层式结构为:Ti/Al/Ti、Al/Ti、Al/Mo、或Mo/Al/Mo。

5.根据权利要求1至3任一项所述的一种氧化物薄膜晶体管阵列基板,其特征在于:所述第一绝缘层采用氮化硅、氧化硅、氮氧化硅、氧化钛、或氧化铝制备;

所述第二绝缘层、第四绝缘层和第一绝缘层采用相同的材料制备。

6.根据权利要求1至3任一项所述的一种氧化物薄膜晶体管阵列基板,其特征在于:所述有源层采用金属氧化物半导体材料制备。

7.根据权利要求1至3任一项所述的一种氧化物薄膜晶体管阵列基板,其特征在于:所述第三绝缘层采用有机高分子材料制备。

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