[实用新型]一种芯片多工位测试台有效
申请号: | 202220956495.5 | 申请日: | 2022-04-24 |
公开(公告)号: | CN217020287U | 公开(公告)日: | 2022-07-22 |
发明(设计)人: | 艾育林;林延海 | 申请(专利权)人: | 深圳市立能威微电子有限公司 |
主分类号: | B25H1/08 | 分类号: | B25H1/08;B25H1/14;B25H1/00 |
代理公司: | 东莞市卓易专利代理事务所(普通合伙) 44777 | 代理人: | 陈能春 |
地址: | 518000 广东省深圳市坪山区龙田街道*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 芯片 多工位 测试 | ||
本实用新型提供一种芯片多工位测试台,涉及芯片测试台技术领域,包括底盘,底盘的上表面中心位置装有电机,电机的输出端装有支座,支座的外表面装有连接杆,连接杆的顶端装有滑道,滑道的上表面装有挡板,滑道的上表面边缘位置装有支板,支板的上表面中心位置转动连接有转盘。本实用新型,通过设置了电机、连接杆、滑道、挡板、支板、转盘、滑槽、夹板和拉簧,能够通过支板和转盘的配合,给芯片的放置提供空间,并通过拉簧、滑槽和夹板的配合,实现对于芯片的夹持固定功能,通过电机、连接杆和滑道的配合,实现对于支板的位置调节功能,以此带动芯片进行移动,构建该测试台的多工位测试功能,提升检测工作的检测效率。
技术领域
本实用新型涉及芯片测试台技术领域,尤其涉及一种芯片多工位测试台。
背景技术
芯片测试台,是一种给芯片测试流程提供辅助的专业工具,其目的是为了通过自身结构,对芯片进行固定,并对芯片的角度、位置调节工作提供辅助,在芯片测试台的实际使用中,由于传统芯片测试台往往设计为单工位的测试方式,而芯片的实际测试流程往往需要对芯片的多位置进行测试,该种单人单工位的测试方式对于芯片测试的工作效率造成了影响,需要进行改进。
实用新型内容
本实用新型的目的是为了解决现有技术中存在的缺点,而提出的一种芯片多工位测试台。
为了实现上述目的,本实用新型采用了如下技术方案:一种芯片多工位测试台,包括底盘,所述底盘的上表面中心位置装有电机,所述电机的输出端装有支座,所述支座的外表面装有连接杆,所述连接杆的顶端装有滑道,所述滑道的上表面装有挡板,所述滑道的上表面边缘位置装有支板,所述支板的上表面中心位置转动连接有转盘,所述转盘的上表面开设有滑槽,所述滑槽的内侧滑动连接有夹板,所述夹板与滑槽之间装有拉簧,所述滑槽套设在拉簧的外表面。
为了实现支板的拆装功能,本实用新型的改进有,所述滑道与挡板的形状均为环形,所述挡板位于滑道的中心位置,所述支板通过螺丝与滑道固定连接。
为了避免夹板对于芯片造成损坏的情况发生,本实用新型的改进有,所述夹板的外表面边缘位置开设有圆角,所述夹板的内侧装有防护软垫。
为了对夹板的滑动轨迹进行进一步限定,本实用新型的改进有,所述滑槽的内壁两侧均开设有限位槽,所述夹板的两侧均装有限位块,所述限位块滑动连接在限位槽的内侧。
为了实现底盘的位置固定功能,本实用新型的改进有,所述底盘的上表面贯穿开设有安装孔,所述安装孔的内侧开设有螺纹。
为了实现对于滑道的支撑功能,本实用新型的改进有,所述底盘的上表面边缘位置装有支撑架,所述支撑架的形状为L形,所述支撑架与滑道的下表面相贴合。
为了提升支撑架结构的稳定性,本实用新型的改进有,所述支撑架的顶端装有弧板,所述弧板与滑道的边缘相贴合,所述支撑架之间装有环形架。
与现有技术相比,本实用新型的优点和积极效果在于:
1、本实用新型,通过设置了电机、连接杆、滑道、挡板、支板、转盘、滑槽、夹板和拉簧,能够通过支板和转盘的配合,给芯片的放置提供空间,并通过拉簧、滑槽和夹板的配合,实现对于芯片的夹持固定功能,通过电机、连接杆和滑道的配合,实现对于支板的位置调节功能,以此带动芯片进行移动,构建该测试台的多工位测试功能,提升检测工作的检测效率。
2、本实用新型,通过设置了安装孔、支撑架、弧板和环形架,能够通过安装孔实现底盘的位置固定功能,通过支撑架和环形架的配合,提升支撑架自身结构的稳定性,并配合弧板,实现对于滑道的稳定支撑功能,使滑道的旋转过程更加稳定。
附图说明
图1为本实用新型提出一种芯片多工位测试台的整体部件示意图;
图2为本实用新型提出一种芯片多工位测试台的仰视角示意图;
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