[实用新型]一种芯片多工位测试台有效
| 申请号： | 202220956495.5 | 申请日： | 2022-04-24 |
| 公开（公告）号： | CN217020287U | 公开（公告）日： | 2022-07-22 |
| 发明（设计）人： | 艾育林;林延海 | 申请（专利权）人： | 深圳市立能威微电子有限公司 |
| 主分类号： | B25H1/08 | 分类号： | B25H1/08;B25H1/14;B25H1/00 |
| 代理公司： | 东莞市卓易专利代理事务所(普通合伙) 44777 | 代理人： | 陈能春 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市坪山区龙田街道*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 多工位 测试 | ||
1.一种芯片多工位测试台，包括底盘(1)，其特征在于：所述底盘(1)的上表面中心位置装有电机(2)，所述电机(2)的输出端装有支座，所述支座的外表面装有连接杆(3)，所述连接杆(3)的顶端装有滑道(4)，所述滑道(4)的上表面装有挡板(5)，所述滑道(4)的上表面边缘位置装有支板(6)，所述支板(6)的上表面中心位置转动连接有转盘(7)，所述转盘(7)的上表面开设有滑槽(8)，所述滑槽(8)的内侧滑动连接有夹板(9)，所述夹板(9)与滑槽(8)之间装有拉簧(10)，所述滑槽(8)套设在拉簧(10)的外表面。
2.根据权利要求1所述的芯片多工位测试台，其特征在于：所述滑道(4)与挡板(5)的形状均为环形，所述挡板(5)位于滑道(4)的中心位置，所述支板(6)通过螺丝与滑道(4)固定连接。
3.根据权利要求1所述的芯片多工位测试台，其特征在于：所述夹板(9)的外表面边缘位置开设有圆角，所述夹板(9)的内侧装有防护软垫(13)。
4.根据权利要求1所述的芯片多工位测试台，其特征在于：所述滑槽(8)的内壁两侧均开设有限位槽(11)，所述夹板(9)的两侧均装有限位块(12)，所述限位块(12)滑动连接在限位槽(11)的内侧。
5.根据权利要求1所述的芯片多工位测试台，其特征在于：所述底盘(1)的上表面贯穿开设有安装孔(14)，所述安装孔(14)的内侧开设有螺纹。
6.根据权利要求1所述的芯片多工位测试台，其特征在于：所述底盘(1)的上表面边缘位置装有支撑架(15)，所述支撑架(15)的形状为L形，所述支撑架(15)与滑道(4)的下表面相贴合。
7.根据权利要求6所述的芯片多工位测试台，其特征在于：所述支撑架(15)的顶端装有弧板(16)，所述弧板(16)与滑道(4)的边缘相贴合，所述支撑架(15)之间装有环形架(17)。
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