专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种芯片的检测组件-CN202310506470.4在审
  • 艾育林;林延海 - 深圳市立能威微电子有限公司
  • 2022-08-29 - 2023-08-01 - B07C5/344
  • 本发明涉及芯片分选检测设备技术领域,提出了一种芯片的检测组件,所述检测组件包括升降设置在所述机架上的检测托架及设置在所述检测托架上的检测头,所述检测头具有与待检测芯片接触的探针,还包括设置在所述检测头中心的吸附嘴及套设在所述探针上的绝缘套管,所述吸附嘴升降设置在所述检测头中心。通过上述技术方案,解决了现有技术中芯片分选检测过程中引脚之间发生放电造成减损、安全性不稳定的问题。
  • 一种芯片检测组件
  • [发明专利]一种具有芯片修正组件的检测装置-CN202310511087.8在审
  • 艾育林;林延海 - 深圳市立能威微电子有限公司
  • 2022-08-29 - 2023-07-21 - H01L21/67
  • 本发明涉及芯片分选检测设备技术领域,提出了一种具有芯片修正组件的检测装置,包括机架及设置在机架上的检测组件、修正组件,还包括检测工位,所述检测工位位于所述检测组件的下方,所述检测工位用于放置芯片托盘,所述修正组件包括升降设置在所述机架上的修正托架及设置在所述修正托架上的支撑框,所述支撑框内设置有针脚套筒,所述针脚套筒活动设置在所述支撑框内,还包括修正压块,所述修正压块升降设置在所述修正托架上,所述修正压块具有修正孔,所述针脚套筒的一端与所述修正孔对应。通过上述技术方案,解决了现有技术中芯片分选检测过程中引脚出现歪斜不便于维修的问题。
  • 一种具有芯片修正组件检测装置
  • [发明专利]一种电源芯片的分选方法及系统-CN202310319595.6在审
  • 艾育林;林延海 - 深圳市立能威微电子有限公司
  • 2023-03-22 - 2023-06-06 - B07C5/344
  • 本发明涉及芯片分选技术领域,提出了一种电源芯片的分选方法及系统,分选方法包括以下步骤:芯片摆正:摆正传送带上的芯片的姿态;芯片装载:捡拾芯片,并将芯片放置在传输盘的凹槽内,直至所有的凹槽填满芯片;进入待测区:将载满芯片的传输盘传送至检测区将空载的传输盘传送至装载区;芯片检测:对芯片进行性能检测,完成空载传输盘的芯片装载工作;芯片筛分;合格芯片靠自重进入成品区内,不合格芯片靠自重进入废品区,不合格芯片在进入废品区前,进行至少一次性能复测,复测中合格的芯片进入成品区;循环工作:以上所有步骤。通过上述技术方案,解决了相关技术中由于车间人手不足而导致库存芯片在发货前性能测试周期长的问题。
  • 一种电源芯片分选方法系统
  • [发明专利]一种空白硅片的全面打磨校验一体机及使用方法-CN202310011495.7在审
  • 艾育林;林延海 - 深圳市立能威微电子有限公司
  • 2023-01-05 - 2023-06-02 - B24B7/04
  • 本发明涉及硅片打磨校验设备技术领域,提出了一种空白硅片的全面打磨校验一体机及使用方法,包括基座及设置在所述基座上的旋转工作台,所述旋转工作台上具有若干个圆周设置的硅片吸附工位,还包括设置在所述旋转工作台上方的砂轮组件,所述砂轮组件包括砂轮支架、引导轨及打磨砂轮,所述引导轨设置在所述砂轮支架上,若干个所述打磨砂轮沿所述引导轨的引导方向移动,所述引导轨具有打磨段,所述打磨段的导向轨迹与所述硅片吸附工位的运行轨迹的圆心角相同。通过上述技术方案,解决了现有技术中硅片的打磨设备提高打磨效率时易存在硅片打磨崩边、表面质量降低的技术问题。
  • 一种空白硅片全面打磨校验一体机使用方法
  • [发明专利]一种芯片二重式分选检测装置-CN202211041604.1有效
  • 艾育林;林延海 - 深圳市立能威微电子有限公司
  • 2022-08-29 - 2023-05-30 - B07C5/344
  • 本发明涉及芯片分选检测设备技术领域,提出了一种芯片二重式分选检测装置,包括机架及设置在机架上的检测组件,还包括检测工位,所述检测工位位于所述检测组件的下方,所述检测工位用于放置芯片托盘,所述检测组件包括升降设置在所述机架上的检测托架及设置在所述检测托架上的检测头,所述检测头具有与待检测芯片接触的探针,还包括设置在所述检测头中心的吸附嘴及套设在所述探针上的绝缘套管,所述吸附嘴升降设置在所述检测头中心。通过上述技术方案,解决了现有技术中芯片分选检测过程中引脚之间发生放电造成减损、安全性不稳定的问题。
  • 一种芯片二重分选检测装置
  • [发明专利]一种桌面级小型芯片测试分选设备-CN202211049685.X有效
  • 艾育林;林延海 - 深圳市立能威微电子有限公司
  • 2022-08-30 - 2023-05-26 - B07C5/02
  • 本发明涉及芯片测试技术领域,提出了一种桌面级小型芯片测试分选设备,包括底板、壳体、取料机构、测试组件、分选机构和控制器,底板和壳体形成容纳腔,取料机构和分选机构均设于容纳腔内,取料机构、测试组件和分选机构均电连接控制器,取料机构包括第一推顶件、第一支架、真空吸盘、传动件、送料盘和调姿杆,第一支架设于底板上,第一推顶件设于第一支架上,真空吸盘设于第一推顶件的推顶端,第一推顶件借助传动件推动送料盘往复摆动,送料盘与传动件转动连接,调姿杆设置在底板上,调姿杆在送料盘的摆动中调整送料盘的姿态以实现下料或盛料。通过上述技术方案,解决了现有的芯片测试装置存在造价昂贵和占地面积大的问题。
  • 一种桌面小型芯片测试分选设备
  • [发明专利]一种芯片的镀膜玻璃基板厚度测试设备及测试方法-CN202310107366.8在审
  • 艾育林;林延海 - 深圳市立能威微电子有限公司
  • 2023-01-30 - 2023-03-24 - G01B21/08
  • 本发明涉及膜厚检测技术领域,提出了一种芯片的镀膜玻璃基板厚度测试设备及测试方法,包括机架设置在所述机架上的测试平台,还包括测试装置、支撑装置及校正装置,所述支撑装置升降设置在所述测试平台下方,所述校正装置设置在所述测试平台四周,所述测试装置位于所述测试平台上方,所述支撑装置包括升降驱动装置及升降设置在所述测试平台上的第一支撑杆和第二支撑杆,所述第二支撑杆的最高点位于所述第一支撑杆的最高点和最低点之间,所述驱动装置能够使所述第一支撑杆和所述第二支撑杆的支撑端重合。通过上述技术方案,解决了现有技术中膜厚测试设备在进行膜厚检验过程中,易造成镀膜基板破损及背面划伤的技术问题。
  • 一种芯片镀膜玻璃厚度测试设备方法
  • [实用新型]一种多吸嘴芯片上料装置-CN202220942513.4有效
  • 艾育林;林延海 - 深圳市立能威微电子有限公司
  • 2022-04-22 - 2022-07-26 - B65G15/00
  • 本实用新型提供一种多吸嘴芯片上料装置,涉及上料装置技术领域,包括组装架和伺服电机,组装架的内部安装有输送带,组装架的上表面固装有支撑架,支撑架的外表面固装有组合板,组合板的外表面开设有转动孔,支撑架的外表面分别固装有电机盒和小型真空机,伺服电机通过电机盒安装在支撑架的下表面,伺服电机的输出端安装有电机轴,电机轴的外表面套设有转动架,电机轴的底端固装有调节架,调节架的内壁安装有电动伸缩杆。本实用新型,通过设置支撑架、组合板、转动孔、伺服电机、电机轴、转动架、调节架、电动伸缩杆和升降板,能够带动吸嘴主体进行升降和移动,通过设置多个吸嘴主体,能够通过多机位配合的方式提升对芯片的上料效率。
  • 一种多吸嘴芯片装置
  • [实用新型]IC芯片分选检测辅助装置-CN202220942515.3有效
  • 艾育林;林延海 - 深圳市立能威微电子有限公司
  • 2022-04-22 - 2022-07-26 - B07C5/34
  • 本实用新型提供IC芯片分选检测辅助装置,涉及IC芯片分选技术领域,包括台座,所述台座的顶面靠近边缘位置处固定安装有侧板,所述台座的顶面放置有托盘,所述托盘的顶面设置有IC芯片本体,所述侧板的顶面贯穿设置有长杆,所述长杆的一端固定安装有吸盘,所述长杆的另一端固装有拉把。本实用新型通过设置的夹持块可以将托盘稳固的固定,从而保证测试工作的正常进行,同时在需要取下托盘时,通过吸盘可以将托盘吸起,从而方便工作人员的搬运操作,而设置的夹持块则可以方便的夹持住托盘,同时在托盘形状大小不一时,工作人员可以根据托盘的实际情况来自由的调整夹持块夹持的位置,从而保证夹持块能够正常夹持。
  • ic芯片分选检测辅助装置
  • [实用新型]一种芯片多工位测试台-CN202220956495.5有效
  • 艾育林;林延海 - 深圳市立能威微电子有限公司
  • 2022-04-24 - 2022-07-22 - B25H1/08
  • 本实用新型提供一种芯片多工位测试台,涉及芯片测试台技术领域,包括底盘,底盘的上表面中心位置装有电机,电机的输出端装有支座,支座的外表面装有连接杆,连接杆的顶端装有滑道,滑道的上表面装有挡板,滑道的上表面边缘位置装有支板,支板的上表面中心位置转动连接有转盘。本实用新型,通过设置了电机、连接杆、滑道、挡板、支板、转盘、滑槽、夹板和拉簧,能够通过支板和转盘的配合,给芯片的放置提供空间,并通过拉簧、滑槽和夹板的配合,实现对于芯片的夹持固定功能,通过电机、连接杆和滑道的配合,实现对于支板的位置调节功能,以此带动芯片进行移动,构建该测试台的多工位测试功能,提升检测工作的检测效率。
  • 一种芯片多工位测试
  • [实用新型]头盔式主动过滤防护罩-CN202020535670.4有效
  • 林延海 - 林延海
  • 2020-04-13 - 2020-12-01 - A62B18/00
  • 本实用新型提供一种头盔式主动过滤防护罩,其包括防护罩壳体、风扇模块、防护罩电池仓、过滤盒、头盔内衬、封口部和锁紧装置,防护罩壳体内部中空,侧壁设置有出气口,顶部设置有进气口,风扇模块包括进气风扇模块和出气风扇模块,进气风扇模块连接在进气口外侧,出气风扇模块连接在出气口外侧,防护罩电池仓用于提供电源,过滤盒用于过滤空气,设置在风扇模块外侧,头盔内衬设置在防护罩壳体内,用于佩戴,封口部连接在防护罩壳体的面罩下端,用于封口,锁紧装置用于将封口部锁紧密封防护罩壳体,本实用新型佩戴舒适性较好,防护罩的密封性、除尘效果和防菌效果较好,防护罩壳体可重复使用,日常使用耗材仅更换过滤盒,使用成本小。
  • 头盔主动过滤防护罩
  • [实用新型]USB接口的开短路测试机系统-CN201620750338.3有效
  • 林延海 - 深圳市立能威微电子有限公司
  • 2016-07-15 - 2017-03-15 - G01R31/02
  • 本实用新型揭示了一种USB接口的开短路测试机系统,包括有控制PC、IF接口板、PMU模块板、RELAY模块板、用于将所有模块板进行总线连接多插槽背板和带有填表式程序开发界面的软件写入模块,EEPROM控制PC连接IF接口板,EEPROMIF接口板内设有CY7C68013USB主控芯片,EEPROM控制PC上设置有用于与外部通信的GPIB接口,EEPROMIF接口板上设置有用于与外部通信的串口、TTL接口和EEPROM,EEPROM多插槽背板上连接有IF接口板、PMU模块板和RELAY模块板。本实用新型的有益效果是通讯接口简单,硬件接口程序通过EERPOM升级具备可扩展性;系统具备PMU量测单元和RELAY继电器单元,后续可扩展数字通道板;具备GPIB接口、串口、TTL三种与外部通讯的接口方式;填表式程序开发界面过程方便用户的编辑和更改。
  • usb接口短路测试系统
  • [实用新型]大型晶圆UV擦除设备-CN201620444448.7有效
  • 林延海 - 深圳市立能威微电子有限公司
  • 2016-05-16 - 2016-10-19 - H01L21/67
  • 本实用新型揭示了一种大型晶圆UV擦除设备,包括有,盖板、壳体、灯管层和托盘,所述托盘和灯管层从下到上依次设置在所述壳体内,所述盖板设置在所述壳体顶端,所述灯管层和所述盖板之间还设置有反射层。本实用新型的有益效果是:减低对UV灯管的要求,可以使用普通UV灯管来替代高质量的UV灯管,降低企业生产成本,提高企业竞争力;增强了设备的散热能力,提高设备使用寿命。
  • 大型uv擦除设备

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