[发明专利]一种利用电子衍射确定手性有机晶体绝对结构的方法及其应用

权利要求书

1.一种利用电子衍射确定手性有机晶体绝对结构的方法，其特征在于，包括以下步骤：

(1)获取待测晶体的正带轴选区电子衍射图A、偏离正带轴选区电子衍射图B、软件模拟电子衍射图C和动力学模拟电子衍射花样强度图D1和D2；

(2)将步骤(1)中的正带轴选取电子衍射图A和偏离正带轴选取电子衍射图B叠加，

获得实验重构电子衍射图E；

(3)比较步骤(1)所得的软件模拟电子衍射图C和步骤(2)所得的实验重构电子衍射图E，并旋转所述实验重构电子衍射图E的方向，使得实验重构电子衍射图E的方向与所述软件模拟电子衍射图C的方向一致，从而确定待测晶体的实验重构电子衍射图E的绝对方向；

(4)提取步骤(1)所述正带轴选取电子衍射图A中电子衍射点的积分强度，并将该强度信息录入步骤(2)所得的实验重构电子衍射图中E，获得实验电子衍射花样强度图F；

(5)分别比较步骤(1)所述动力学模拟电子衍射花样强度图D1和D2和步骤(4)所述实验电子衍射花样强度图F的匹配度，从而确定待测晶体的绝对构型。

2.根据权利要求1所述的利用电子衍射确定手性有机晶体绝对结构的方法，其特征在于，步骤(1)中，正带轴选区电子衍射图A中包括零阶衍射点。

3.根据权利要求1所述的利用电子衍射确定手性有机晶体绝对结构的方法，其特征在于，步骤(1)中，偏离正带轴选区电子衍射图B中包括零阶衍射点和一阶衍射点。

4.根据权利要求1所述的利用电子衍射确定手性有机晶体绝对结构的方法，其特征在于，步骤(1)中，获取偏离正带轴选区电子衍射图A时，待测晶体旋转偏离正带轴的角度为0-5°。

5.根据权利要求1-4中任一项所述的利用电子衍射确定手性有机晶体绝对结构的方法，其特征在于，步骤(1)中，获取动力学模拟电子衍射花样强度图D的方法为：晶体学软件JEMS中的Bloch-wave方法。

6.根据权利要求1-4中任一项所述的利用电子衍射确定手性有机晶体绝对结构的方法，其特征在于，步骤(1)中，所述动力学模拟电子衍射花样强度图D1和D2为两种对映异构体的动力学模拟电子衍射花样强度图。

7.根据权利要求1-4中任一项所述的利用电子衍射确定手性有机晶体绝对结构的方法，其特征在于，步骤(1)中，所述软件模拟电子衍射图C的工具为：晶体学软件JEMS。

8.根据权利要求1任一项所述的利用电子衍射确定手性有机晶体绝对结构的方法，其特征在于，步骤(4)中，所述获取积分强度的工具为：电子衍射花样处理软件ED process。

9.根据权利要求1-4任一项所述的利用电子衍射确定手性有机晶体绝对结构的方法，其特征在于，步骤(5)中，所述匹配度的判断方法为：将所述实验模拟电子衍射花样强度图F中呈中心对称的衍射对分别与两种动力学模拟电子衍射花样强度图D1和D2中相应的呈中心对称的衍射对进行比较，

如果所述动力学模拟电子衍射花样强度图D1与所述实验模拟电子衍射花样强度图F中衍射对强度关系相同率＞50％，则待测晶体的结构与所述动力学模拟电子衍射花样强度图D1的绝对结构一致；

如果所述动力学模拟电子衍射花样强度图D2与所述实验模拟电子衍射花样强度图F中衍射对强度关系相同率＞50％，则待测晶体的结构与所述动力学模拟电子衍射花样强度图D2的绝对结构一致。

10.根据权利要求1-9任一项权利要求所述的利用电子衍射确定手性有机晶体绝对结构的方法在判断纳米晶体绝对结构中的应用。