[发明专利]位移检测电路及其方法在审
申请号: | 202211704642.0 | 申请日: | 2022-12-29 |
公开(公告)号: | CN116360607A | 公开(公告)日: | 2023-06-30 |
发明(设计)人: | J·萨比;L·皮耶罗邦 | 申请(专利权)人: | EM微电子马林有限公司 |
主分类号: | G06F3/03 | 分类号: | G06F3/03 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 郑瑾彤;吕传奇 |
地址: | 瑞士*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 位移 检测 电路 及其 方法 | ||
本发明涉及位移检测电路及其方法。本发明涉及位移检测电路(100),其被配置为实施用于具有至少一个像素阵列(190)的定点装置(199)的位移检测方法(500)。所述位移检测电路(100)包括至少一个主计算器(110)、至少一个辅计算器(111、112、113)、至少一个比较器(130)和至少一个运动检测器(150)。所述至少一个主计算器(110)被配置为计算与所述至少一个像素阵列(190)的平均值相对应的至少一个主平均值(210),将所述至少一个主平均值(210)与所述至少一个辅计算器(111、112、113)的至少一个辅平均值(211、212、213)进行比较。根据比较的结果,所述至少一个运动检测器(150)指示定点装置(199)的位移的至少一个方向(250)。
技术领域
本发明涉及定点装置,特别是用于控制诸如个人计算机的显示器之类的屏幕上的光标位置的定点装置。此类定点装置可以例如包括用于控制显示屏上的光标位置的鼠标。
更具体地,本发明涉及光学定点装置的领域,光学定点装置包括包含光电探测器阵列的光学运动感测装置,光电探测器阵列用于测量表面的被光源辐射照射的部分的变化的强度模式,并且用于提取关于光电探测器阵列与表面的被照射部分之间的相对运动的信息。
背景技术
设计了用于检测水平位移的系统。在此类系统中,传感器和工作表面之间的距离(而不是高度)被认为是固定的,并且反射到传感器上的聚光灯在像素阵列的有效区域内居中。
此外,在装配过程中,系统会出现公差,进而导致实际高度与标称高度不同。另外,鼠标的用户可能在使用鼠标时将其从表面提起。由于透镜形成的光路,当高度改变时,像素阵列上的照射点的位置会沿一个水平轴移动。
聚光灯的这种移动会对传感器的跟踪能力产生许多负面影响。一方面,只有像素阵列的部分有效区域被照射,这意味着更少的信息可用于传感器测量位移。另一方面,传感器可能会将聚光灯的移动错误解读为工作表面的水平移动,而不是高度改变的影响。
在WO2006063981中描述了一种用于检测定点装置从被照射表面部分的提起的方法。该方法使用当光学定点装置不移动时的失焦,并且当光学定点装置移动时,使用比第一个更大的第二个失焦。所述检测方法还使用动态失焦阈值,该动态失焦阈值取决于表面向光学定点装置的传感器呈现的运动特征的平均数。
发明内容
本发明旨在克服这些缺点,因此本发明的目的是提供一种用于定点装置的至少一个像素阵列的位移检测方法,所述定点装置被配置为在至少一个方向上在表面上和/或从表面移位;所述至少一个像素阵列包括至少一个第一列、至少一个第二列和至少一个第三列;所述位移检测方法包括至少一个:
- 至少一个主平均值的主计算;所述至少一个主平均值对应于所述至少一个像素阵列的平均值;
- 至少一个辅平均值的辅计算;所述至少一个辅平均值对应于所述至少一个第一列、所述至少一个第二列和所述至少一个第三列中的至少一列的平均值;
- 所述至少一个辅平均值与所述至少一个主平均值的比较;以及
- 在所述至少一个方向上的定点装置的位移的运动检测。
藉由这种配置,所述位移检测方法可以基于聚光灯检测高度变化,并对其做出反应,以保证最佳跟踪能力。
根据一个实施例,所述至少一个方向包括至少一个第一方向和至少一个第二方向,并且其中,如果大于所述至少一个主平均值的所述至少一个辅平均值在所述至少一个初级方向上偏移,或者如果大于所述至少一个主平均值的所述至少一个辅平均值在所述至少一个次级方向上偏移,则所述至少一个运动检测指示所述至少一个第一方向。
藉由这种配置,所述位移检测方法可以检测定点装置在所述至少一个方向上的位移。
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