[发明专利]位移检测电路及其方法

权利要求书

1.用于定点装置（199）的像素阵列（190）的位移检测方法（500），所述定点装置被配置为在至少一个方向（250）上在表面上和/或从表面移位；所述像素阵列（190）包括第一列（191）、第二列（192）和第三列（193）；所述位移检测方法（500）包括：

- 主平均值（210）的主计算（510）；所述主平均值（210）对应于所述像素阵列（190）的平均值；

- 辅平均值（211、212、213）的辅计算（511、512、513）；所述辅平均值（211、212、213）对应于所述第一列（191）、所述第二列（192）和所述第三列（193）中的一列的平均值；

- 所述辅平均值（211、212、213）与所述主平均值（210）的比较（530）；以及

- 在所述至少一个方向（250）上的定点装置（199）的位移的运动检测（550）。

2.根据权利要求1所述的位移检测方法（500），其中，所述至少一个方向（250）包括第一方向（251）和第二方向（252），并且其中，如果大于所述主平均值（210）的所述辅平均值（211、212、213）在初级方向（253）上偏移，或者如果大于所述主平均值（210）的所述辅平均值（211、212、213）在次级方向（254）上偏移，则所述运动检测（550）指示所述第一方向（251）。

3.根据权利要求1或2所述的位移检测方法（500），其中，所述辅平均值（211、212、213）包括所述第一列（191）的一个平均值、所述第二列（192）的一个平均值和所述第三列（193）的一个平均值，并且所述方法包括所述位移的一个量化（570），其被配置为根据在所述初级方向（253）和所述次级方向（254）中的所述至少一个方向（253、254）上偏移的大于主平均值（210）的所述辅平均值（211、212、213）的数量来量化（570）位移的高度。

4.根据前述权利要求1至3中的任一项所述的位移检测方法（500），其包括置零（505）；所述置零（505）将所述表面上的实际位移值设置为等于所述定点装置（199）的设置位移值。

5.根据权利要求1所述的位移检测方法（500），其中，所述运动检测（550）包括根据所述置零（505）的所述定点装置（199）的高度计算。

6.根据权利要求1所述的位移检测方法（500），其中，所述高度计算包括根据所述定点装置（199）的所述设置位移值对一高度处的实际位移值的校正（590）。

7.位移检测电路（100），其被配置为针对具有像素阵列（190）的定点装置（199）实施根据前述权利要求中的任一项所述的位移检测方法（500）；所述像素阵列（190）包括第一列（191）、第二列（192）和第三列（193）；所述位移检测电路（100）包括：

- 主计算器（110）；所述主计算器（110）被配置为计算主平均值（210）；所述至少一个主平均值（210）对应于所述至少一个像素阵列（190）的平均值；

- 辅计算器（111、112、113）；所述辅计算器（111、112、113）被配置为计算辅平均值（211、212、213）；所述辅平均值（211、212、213）对应于所述第一列（191）、所述第二列（192）和所述第三列（193）中的一列的平均值；

- 比较器（130）；所述比较器（130）被配置为将所述辅平均值（211、212、213）与所述主平均值（210）进行比较（530）；以及

- 运动检测器（150）；所述运动检测器（150）被配置为检测（550）定点装置（199）的位移的至少一个方向（250）。