[发明专利]产品缺陷检测方法

说明书

本发明提供了一种产品缺陷检测方法，涉及缺陷检测技术领域，该方法包括：数据采集步骤：通过检测装置采集缺陷数据，并传输至上位机；数据处理步骤：通过上位机对所述缺陷数据进行分析和处理；结果呈现步骤：将数据处理步骤中得到的处理数据传输至用户展示平台，呈现最终分析结果。本发明能够提高缺陷检测的准确率。

技术领域

本发明涉及测量测试技术中的缺陷检测技术领域，具体地，尤其涉及一种产品缺陷检测方法，尤其是应用于工业检测中的产品缺陷检测方法。

背景技术

相位测量偏折术是基于条纹反射法的一种光学检测技术，该技术由计算机编码生成条纹结构光照明光束，利用显示屏进行显示，并向被测物体投射，经被测物体反射的条纹被调制而变形，利用CCD相机捕获该调制的条纹强度图，再结合系统的标定参数，通过计算机得到梯度数据以获得被测物体的形貌信息，该技术在显微测量、工业检测、天文观测等领域的巨大潜在应用而备受关注。在显微测量中，基于相位测量偏折术的测量装置可用于透明物体的显微测量；在工业检测中，基于相位测量偏折术的检测系统可用于超精密车削以得到高精度的自由曲面；在天文观测中，基于相位测量偏折术的光学检测模型可用于测量精密X射线反射镜面形及Inouye太阳望远镜面形。随着相位测量偏折术在各领域的应用日益增加，对基于相位测量偏折术的波前检测方法的研究也日趋重要。

相位测量偏折术具有非接触、低成本、检测精度高、易操作、无需复杂装置、动态范围广、抗干扰能力强、检测速度快、全视野等诸多优势。基于相位测量偏折的启发，本发明专利提出了一种新型的相位测量偏折术波前检测方法——基于涡旋条纹的相位测量偏折术波前检测装置及方法，用于待测波前的光学检测，该方法通过移动被测物体或者CCD相机以获得不同具有不同相移的入射涡旋条纹光束，再利用CCD相机记录入射涡旋条纹光束经过待测波前前后的强度信息图，从而结合多步相移算法、区域波前重构算法等实现待测波前的精确重建。该波前检测装置抗干扰能力强、环境要求低、检测范围广、鲁棒性高、操作简单、结构简洁、成本低，可实现待测波前的波前再现，可避免使用价格昂贵的激光光源，可扩展波前检测技术的应用范围。

在工业检测中，质检设备对产品质量的保证起到了关键作用。为实现对产品检验的高标准要求，在质检产品的过程做到可监控、可追溯、可量化、可预警，为提高产品的良率和降低残损做科学的规划和管理，所以需要一个低成本、检测精度高、易操作、无需复杂装置、动态范围广、抗干扰能力强的缺陷检测方法。

传统的产品缺陷检测方法是根据预设程序进行检测，检测精度较低，装置复杂，且成本高，无法满足企业越来越多的检测需求。

发明内容

针对现有技术中的缺陷，本发明提供一种产品缺陷检测方法。

根据本发明提供的一种产品缺陷检测方法，所述方案如下：

数据采集步骤：通过检测装置采集缺陷数据，并传输至上位机；

数据处理步骤：通过上位机对所述缺陷数据进行分析和处理；

结果呈现步骤：将数据处理步骤中得到的处理数据传输至用户展示平台，呈现最终分析结果。

优选地，所述检测装置包括：显示屏、准直透镜、分束片、参考平面镜、供参考平面镜放置的第一旋转镜架、被测物体、供被测物体放置的第二旋转镜架、CCD相机、供CCD相机放置的三维平移台和计算机；

所述显示屏和CCD相机的输出端与所述计算机的输入端连接；

所述显示屏用于显示所述计算机编码生成的涡旋条纹光束，该涡旋条纹光束经所述准直透镜准直后的涡旋条纹光束作为光源，该光源到达所述分束片；其中，透射光束作为参考光束，反射光束作为物光束；

所述参考光束到达固定在所述参考平面镜后，返回并再次通过所述分束片，该分束片将部分参考光束反射进入所述CDD相机，通过移动所述三维平移台，使所述CCD相机上出现所述参考平面镜的参考强度图，并将该参考强度图传输至所述计算机；