[发明专利]一种装备的故障位置识别方法和系统在审
申请号: | 202211380325.8 | 申请日: | 2022-10-31 |
公开(公告)号: | CN115661106A | 公开(公告)日: | 2023-01-31 |
发明(设计)人: | 宋伯超;孙晓娜;王蕾;鲁庆奥 | 申请(专利权)人: | 北京无线电测量研究所 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06T5/40;G06T7/33;G06V10/46;G06V10/764 |
代理公司: | 北京轻创知识产权代理有限公司 11212 | 代理人: | 沈尚林 |
地址: | 100854 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 装备 故障 位置 识别 方法 系统 | ||
1.一种装备的故障位置识别方法,其特征在于,包括:
根据待识别装备的故障界面图与预设图片识别库中的标准界面图进行相似度配准,获得最优匹配标准图;
根据所述最优匹配标准图的第一测试点信息,自动识别待识别装备故障界面图中的第二测试点信息;
将所述第二测试点信息进行故障识别诊断,获得识别结果。
2.根据权利要求1所述的一种装备的故障位置识别方法,其特征在于,所述根据待识别装备故障界面图与预设图片识别库中的标准界面图进行相似度配准,获得最优匹配标准图,具体包括:
通过直方图算法、哈希算法或ORB算法模块计算待识别装备故障界面图与预设图片识别库中的每个标准界面图之间的每个相似度,将最大相似度对应的标准界面图,确定为所述最优匹配标准图。
3.根据权利要求1所述的一种装备的故障位置识别方法,其特征在于,获得最优匹配标准图之后,还包括:
当最优匹配标准图与待识别装备的故障界面图之间的相似度小于预设阈值时,则通过SIFT特征算法对所述最优匹配标准图进行处理;
对处理后的最优匹配标准图进行二次相似度计算,当计算结果大于处理前的相似度则返回所述处理后的最优匹配标准图;
其中,根据所述最优匹配标准图的第一测试点信息,具体包括:
根据处理后的最优匹配标准图的第一测试点信息。
4.根据权利要求1-3任一项所述的一种装备的故障位置识别方法,其特征在于,构建所述预设图片识别库的过程,具体包括:
根据装备在正常状态下的界面图片和界面图片对应的测试点信息,来构建预设图片识别库。
5.根据权利要求4所述的一种装备的故障位置识别方法,其特征在于,所述根据所述第二测试点信息进行故障识别诊断,具体包括:
根据所述第二测试点信息中的测试点类别信息和位置信息,进行分类定位;
对分类定位后的第二测试点信息进行故障识别。
6.根据权利要求1、2、3或5所述的一种装备的故障位置识别方法,其特征在于,所述将所述第二测试点信息进行故障识别诊断,具体包括:
通过颜色识别模块、灯光识别模块、数码管识别模块、数字识别模块、折现识别模块、坐标系识别模块、阵列识别模块和区域识别模块,对所述第二测试点信息进行故障识别诊断。
7.一种装备的故障位置识别系统,其特征在于,包括:相似度配准模块、测试点识别模块和故障识别诊断模块;
所述相似度配准模块用于根据待识别装备的故障界面图与预设图片识别库中的标准界面图进行相似度配准,获得最优匹配标准图;
所述测试点识别模块用于根据所述最优匹配标准图的第一测试点信息,自动识别待识别装备故障界面图中的第二测试点信息;
所述故障识别诊断模块用于将所述第二测试点信息进行故障识别诊断,获得识别结果。
8.根据权利要求7所述的一种装备的故障位置识别系统,其特征在于,所述相似度配准模块具体用于通过直方图算法、哈希算法或ORB算法模块计算待识别装备故障界面图与预设图片识别库中的每个标准界面图之间的每个相似度,将最大相似度对应的标准界面图,确定为所述最优匹配标准图。
9.根据权利要求7所述的一种装备的故障位置识别系统,其特征在于,还包括:优化处理模块,用于当最优匹配标准图与待识别装备的故障界面图之间的相似度小于预设阈值时,则通过SIFT特征算法对所述最优匹配标准图进行处理;
对处理后的最优匹配标准图进行二次相似度计算,当计算结果大于处理前的相似度则返回所述处理后的最优匹配标准图;
所述测试点识别模块具体用于根据处理后的最优匹配标准图的第一测试点信息。
10.根据权利要求7-9任一项所述的一种装备的故障位置识别系统,其特征在于,还包括:预设图片识别库构建模块,用于根据装备在正常状态下的界面图片和界面图片对应的测试点信息,来构建预设图片识别库。
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