[发明专利]一种烹饪锅具的制备方法有效
申请号: | 202211279802.1 | 申请日: | 2022-10-19 |
公开(公告)号: | CN115874243B | 公开(公告)日: | 2023-09-15 |
发明(设计)人: | 程康雄 | 申请(专利权)人: | 浙江中普厨具制造有限公司 |
主分类号: | C25D11/04 | 分类号: | C25D11/04;C25D11/16;C25D11/18;A47J27/00;A47J36/02 |
代理公司: | 金华市婺实专利代理事务所(普通合伙) 33340 | 代理人: | 胡恩晗 |
地址: | 321102 浙江省金华市*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 烹饪 制备 方法 | ||
1.一种烹饪锅具的制备方法,所述烹饪锅具具有铝合金胚体和涂覆于胚体的致密的不粘层,其特征在于:
铝合金胚体的表面处理方法包括以下步骤:
S1、通过高压喷丸在铝合金胚体内壁均匀规则的分布有凹坑,所述凹坑与其所在的被喷面垂直;
所述高压喷丸中喷枪工作压力为0.8至0.95MPa;喷丸过程中使用的刚性喷射物的直径为0.6mm至2.0mm;
S2、等离子抛光去除S1中凹坑边沿由喷丸击打形成的细微毛刺;
S3、低温阳极氧化经过S2的铝合金胚体内壁设置有凹坑的一侧形成有生长于胚体内壁的氧化膜;其中氧化膜从沿着胚体厚度方向依次包括致密氧化层和表面疏松层;
其中致密氧化层的硬度高于所述表面疏松层;
S3中阳极氧化的工艺参数如下:
起始电压为15至20V,终止电压为40至50V,控制电压以0.5V/ min至2V/min的速率上升;
氧化开始电流密度为0.5A/dm2,分次逐步升高电流密度至2.5 A/dm2至3.0 A/dm2,然后保持电流恒定,直至氧化结束;
氧化池液体为质量分数为18%至26%的H2SO4;
S4、物理抛光去除胚体表面的表面疏松层得用于涂覆不粘层的致密氧化层,所述物理抛光为抛光轮旋转抛光;
S5、在经过S4制得的致密氧化层表面喷涂不粘层得目标烹饪锅具。
2.根据权利要求1所述的制备方法,其特征在于:S1中所述高压喷丸的具体工艺过程如下:
喷枪的喷头与被喷面为垂直状态;
喷枪喷头与胚体内壁被喷面保持同一距离L,其中,L为10至20cm;
喷丸过程使用的刚性喷射物为钢砂、钢珠、金刚石颗粒中一种或者多种。
3.根据权利要求1所述的制备方法,其特征在于:
S1中高压喷丸的具体方式是:
高压喷丸不断的旋转移动轨迹形成同心圆阵列,依次从烹饪锅具锅底中心对锅底、锅底与侧壁的过渡区域以及侧壁喷丸;
直至铝合金胚体表面规则均匀的分布有等深度的凹坑。
4.根据权利要求3所述的制备方法,其特征在于:
针对S1中高压喷丸制得的凹坑规则分散程度的检测方法包括以下步骤:
S11、将经过高压喷丸的铝合金胚体放置于测量平台;
S12、沿铝合金胚体从侧壁第一检测位置-过渡区域表面-锅底表面-过渡区域表面-侧壁第二检测位置的形成的检测移动路线间隔设置至少10至20个与铝合金胚体表面等距离的超声波测量点位;其中侧壁第一检测位置与侧壁的第二检测位置是相对的;
S13、沿着检测移动路线超声波检测铝合金胚体表面的凹坑的深度,获得沿着检测移动路线的以同一喷丸工艺参数制得的凹坑深度数据,收集沿着该凹坑深度数据并制得凹坑的平均深度对照线;
S14、将待检测的经过同一喷丸工艺参数加工凹坑的铝合金胚体输送至测量平台,沿着检测移动路线超声波测量该铝合金胚体表面的凹坑分布情况获得凹坑深度实际分布曲线,与同一喷丸工艺参数下的平均深度对照线比较,判断实际凹坑深度分布曲线相对于平均深度对照线的波动是否在设定阈值内,确定所得铝合金胚体进入S2或者回收处理。
5.根据权利要求1所述的制备方法,其特征在于:S3中将经过S2的铝合金胚体放入氧化池内进行阳极硬质氧化;氧化池工作温度为-7°C至1°C。
6.根据权利要求1所述的制备方法,其特征在于:在20至30min内分5次至8次逐步升高电流密度至保持恒定的电流密度。
7.根据权利要求5所述的制备方法,其特征在于:所述氧化时间为20至30分钟。
8.根据权利要求5所述的制备方法,其特征在于:氧化膜的厚度为50μm至60μm;其中表面疏松层的硬度为HRC36以上,致密氧化层的硬度为HRC60以上,其中致密氧化层的厚度为25μm至40μm。
9.根据权利要求1所述的制备方法,其特征在于:对经过S5制得的目标烹饪锅具表面不粘层均匀致密性进行检测,具体的检测方法包括以下步骤:
S61、沿着垂直于一待检测烹饪锅具涂覆有不粘层一侧的表面垂直拍照获取20处以上的固定面积的取样图像,其中垂直拍照的位置包括烹饪锅具的锅底、侧壁以及锅底和侧壁之间的过渡区域;
S62、取图像中的任意点像素灰度值,以该点为中心向外辐射;将相邻点像素灰度值与该点灰度值做差值比较运算,得到差值为δT,并记录对比数量为X;
S63、若X值大于取样图像像素点的60%时,将记录的各相邻点的灰度值求取平均值,得到标准灰度值T标准;
S64、当待检测烹饪锅具中的任意一取样图像中的δT与T标准之间差的绝对值小于等于10,则所得烹饪锅具不粘层的均匀性合格;如δT与T标准之间差的绝对值大于10,则所得烹饪锅具表面不粘层的均匀性不合格,进行回收处理。
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