[发明专利]一种腐蚀箔生产异常识别方法有效
| 申请号: | 202211248311.0 | 申请日: | 2022-10-12 |
| 公开(公告)号: | CN115330767B | 公开(公告)日: | 2023-03-31 |
| 发明(设计)人: | 李晓天;陈小兵 | 申请(专利权)人: | 南通南辉电子材料股份有限公司 |
| 主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06T7/11;G06T7/13;G06T5/00;G06T5/20;G06V10/762;G06V10/764 |
| 代理公司: | 武汉世跃专利代理事务所(普通合伙) 42273 | 代理人: | 万仲达 |
| 地址: | 226000 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 腐蚀 生产 异常 识别 方法 | ||
1.一种腐蚀箔生产异常识别方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:
对腐蚀箔的表面进行图像采集,对采集的图像进行语义分割得到腐蚀箔图像,对腐蚀箔图像进行灰度化处理,得到对应的腐蚀箔灰度图;
分别计算每个像素点及其八邻域范围内其他像素点之间的灰度值方差,将灰度值方差作为对应像素点的异常概率;根据像素点的灰度值和欧式距离对腐蚀箔灰度图中的像素点进行聚类,得到多个类别,根据每个类别对应的灰度均值将腐蚀箔灰度图分为三类区域,分别为正常腐蚀箔表面区域、凸点起伏表面区域和凸点阴影表面区域;
选取灰度均值最大的类别作为目标类别,将目标类别中灰度值最大的像素点作为凸点顶点,任选一个凸点顶点作为目标像素点,对于凸点起伏表面区域中的当前像素点,计算当前像素点与目标类别中距离最近的第一边缘点,并得到当前像素点与第一边缘点的第一距离;获取当前像素点与第一边缘点所在直线与当前像素点所属类别的最外边缘相交的第二边缘点,分别计算第一边缘点和第二边缘点的第二距离、第一边缘点与目标像素点的第三距离,结合第一距离、第二距离和第三距离得到凸点起伏表面区域中的当前像素点的距离调节权重值;
将凸点阴影表面区域的每个像素点与目标像素点相连,根据连线上的灰度值变化将凸点阴影表面区域中的像素点分为两类,分别计算每类中每个像素点的距离调节权重值;令正常腐蚀箔表面区域中每个像素点的距离调节权重值为0;
结合腐蚀箔灰度图中每个像素点的距离调节权重值和灰度值获取对应像素点的调整权重值;利用调整权重值对异常概率进行调整得到每个像素点的新异常概率,基于新异常概率获取自适应滤波参数以对腐蚀箔灰度图进行滤波处理,得到滤波图像,对滤波图像进行腐蚀箔凸点缺陷识别;
所述调整权重值的计算公式为:
其中,为第/个像素点的调整权重值,/表示第/个像素点的灰度值;/表示第/个像素点的距离调整权重值;/为腐蚀箔灰度图中像素点的距离调节权重值和灰度值的乘积的最大值;/为腐蚀箔灰度图中像素点的距离调节权重值和灰度值的乘积的最小值;
所述新异常概率的获取方法,包括:
将常数1减去调整权重值的结果乘以对应像素点的异常概率得到新异常概率。
2.如权利要求1所述的一种腐蚀箔生产异常识别方法,其特征在于,所述根据每个类别对应的灰度均值将腐蚀箔灰度图分为三类区域的方法,包括:
像素个数最多的类别初始划分为正常腐蚀箔表面区域;计算每个类别的灰度均值,计算每个类别的灰度均值与像素个数最多的类别的灰度均值之间的差值,当差值大于0,对应类别属于凸点起伏表面区域;当差值小于0,对应类别属于凸点阴影表面区域。
3.如权利要求1所述的一种腐蚀箔生产异常识别方法,其特征在于,所述结合第一距离、第二距离和第三距离得到凸点起伏表面区域中的当前像素点的距离调节权重值的方法,包括:
计算第一距离和第二距离的比值,将该比值与第三距离相加的结果的相反数输入以自然数e为底数的指数函数,得到的结果即为距离调节权重值。
4.如权利要求1所述的一种腐蚀箔生产异常识别方法,其特征在于,所述根据连线上的灰度值变化将凸点阴影表面区域中的像素点分为两类的方法,包括:
分别将每个像素点与目标像素点进行连线,若连线上的灰度值不是全部递减或全部递增,则将这些像素点划分为一类,反之划分为另一类。
5.如权利要求1所述的一种腐蚀箔生产异常识别方法,其特征在于,所述对滤波图像进行腐蚀箔凸点缺陷识别的方法,包括:
通过OTSU阈值算法,得到第一阈值和第一阈值,其中第一阈值大于第二阈值;将小于第二阈值的像素点的像素值设置为0,小于第一阈值并且大于第二阈值的像素点的像素值设置为0.5,大于第一阈值的像素点的像素值设置为1,其中像素值为1和像素值为0的像素点代表腐蚀箔的凸点缺陷位置,进而得到滤波图像中腐蚀箔的凸点缺陷位置。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于南通南辉电子材料股份有限公司,未经南通南辉电子材料股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202211248311.0/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。





