[发明专利]一种阀门密封面缺陷识别方法有效

专利信息
申请号: 202211225419.8 申请日: 2022-10-09
公开(公告)号: CN115294134B 公开(公告)日: 2023-01-20
发明(设计)人: 涂辉;陶朝清 申请(专利权)人: 誉隆半导体设备(江苏)有限公司
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T7/11;G06T7/73
代理公司: 深圳信科专利代理事务所(普通合伙) 44500 代理人: 张琼
地址: 226000 江苏省南*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 阀门 密封 缺陷 识别 方法
【权利要求书】:

1.一种阀门密封面缺陷识别方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:

识别获取缠绕垫片图像,利用灰度直方图对图像进行分割得到内环区域和外环区域;分别计算两个区域对应的灰度区间内的灰度均匀程度,并获取灰度均匀程度大于阈值的图像;

设置固定尺寸的窗口对缠绕垫片图像进行滑窗处理,计算窗口内中心像素点与其他像素点之间的灰度值差值得到中心偏差值;获取中心偏差值大于阈值的像素点,计算与该像素点的梯度方向垂直的像素点的中心偏差值,直到中心偏差值小于阈值,获取所有遍历的像素点构成缠绕垫片的裂纹区域;

根据裂纹区域内像素点到垫片圆环原点的距离判断该裂纹区域属于内环区域还是外环区域,选择裂纹区域内设定位置的像素点构成可能缺陷区域;根据可能缺陷区域像素点的距离计算开裂可能性;

当开裂可能性小于阈值时,根据裂纹区域内像素点的梯度计算裂纹区域存在裂纹的可能性;根据裂纹区域存在裂纹的可能性与可能性阈值判断阀门密封垫片的缺陷;

所述选择裂纹区域内设定位置的像素点构成可能缺陷区域具体为:

分别获取内环裂纹上距离圆环中心最远的像素点坐标和外环裂纹上距离圆环中心最近的像素点坐标,记为和,获取像素点和与圆环中心的连线,将连线延长值外环的内边缘,两条连线与填充换构成可能缺陷区域;

所述根据可能缺陷区域像素点的距离计算开裂可能性具体为:

式中为内环裂纹上距离圆环中心最远的像素点坐标,为外环裂纹上距离圆环中心最近的像素点坐标。

2.根据权利要求1所述的一种阀门密封面缺陷识别方法,其特征在于,所述区域对应的灰度区间内的灰度均匀程度的获取方法具体为:

其中,为区域对应的灰度区间的灰度均匀程度,为区间内的最高频数值,为相邻的灰度区间值。

3.根据权利要求1所述的一种阀门密封面缺陷识别方法,其特征在于,所述中心偏差值的获取方法具体为:

其中,表示中心偏差值,为中心点邻域内各点的灰度值,H为中心像素点的灰度值,i表示邻域内第i个像素点。

4.根据权利要求1所述的一种阀门密封面缺陷识别方法,其特征在于,所述根据裂纹区域内像素点到垫片圆环原点的距离判断该裂纹区域属于内环区域还是外环区域具体为:

以垫片圆环中心为原点建立直角坐标系,获取裂纹区域内像素点的坐标,由于内外环垫片上中间填充环与内外环的宽度近似相同,计算内环内边缘和外环外边缘与原点的距离值;

裂纹区域内像素点距离原点的距离时,裂纹区域属于外环区域;

裂纹区域内像素点距离原点的距离时,裂纹区域属于内环区域。

5.根据权利要求1所述的一种阀门密封面缺陷识别方法,其特征在于,所述根据裂纹区域存在裂纹的可能性与可能性阈值判断阀门密封垫片的缺陷具体为:

所述存在裂纹的可能性小于或等于可能性阈值时,对应的密封缠绕垫片存在缺陷,为不合格产品;所述存在裂纹的可能性大于可能性阈值时,需要对内外环进行重新生产,填充环不存在缺陷。

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