[发明专利]晶圆承载腔体设备及其控制方法有效
| 申请号: | 202211179427.3 | 申请日: | 2022-09-27 |
| 公开(公告)号: | CN115295460B | 公开(公告)日: | 2023-02-03 |
| 发明(设计)人: | 戴建波;张璞 | 申请(专利权)人: | 无锡邑文电子科技有限公司 |
| 主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67 |
| 代理公司: | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人: | 杨勋 |
| 地址: | 214000 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 承载 设备 及其 控制 方法 | ||
1.一种晶圆承载腔体设备,其特征在于,所述晶圆承载腔体设备包括:
晶圆承载腔体(110),内部开设有容置空腔(111),所述晶圆承载腔体(110)的侧壁上开设有进出口(112),所述进出口(112)的上下两侧均设置有水平防刮条(130),所述进出口(112)的左右两侧均设置有竖直防刮条(140),所述进出口(112)的外围设置有密封圈(150),所述水平防刮条(130)和所述竖直防刮条(140)位于所述密封圈(150)的外围,所述水平防刮条(130)和所述竖直防刮条(140)高于所述晶圆承载腔体(110)的密封面0.2±0.05mm,所述水平防刮条(130)和所述竖直防刮条(140)的凸出高度与所述密封圈(150)的直径的比值范围为2:55~2:50,所述水平防刮条(130)和所述竖直防刮条(140)的材质为PTFE,所述密封圈(150)的材质为FKM;
腔体密封门(120),可滑动地安装在所述进出口(112)上,所述腔体密封门(120)滑动过程中与所述水平防刮条(130)、所述竖直防刮条(140)以及所述密封圈(150)接触,且与所述晶圆承载腔体(110)的壁面之间保持间隙;
氮气接头(190),安装在所述晶圆承载腔体(110)的外壁上,所述氮气接头(190)用于向所述晶圆承载腔体(110)的内部充入氮气;
带网中心圈(191),安装在所述氮气接头(190)的内部,所述带网中心圈(191)用于将充入的氮气分散,防止氮气吹起污染颗粒。
2.根据权利要求1所述的晶圆承载腔体设备,其特征在于,所述密封圈(150)的直径的取值范围为5mm~5.5mm。
3.根据权利要求1所述的晶圆承载腔体设备,其特征在于,所述水平防刮条(130)的长度与所述进出口(112)的宽度之比为0.75~1,所述竖直防刮条(140)与所述进出口(112)的长度之比为0.75~1。
4.根据权利要求1所述的晶圆承载腔体设备,其特征在于,所述晶圆承载腔体设备还包括:
滑片传感器(170),安装在所述晶圆承载腔体(110)的顶部,在未发生滑片的情况下,所述滑片传感器(170)发出的光束照射到所述晶圆承载腔体(110)的底壁、并反射回所述滑片传感器(170),在发生滑片的情况下,所述滑片传感器(170)发出的光束照射到滑出的晶圆、并反射回所述滑片传感器(170)。
5.根据权利要求4所述的晶圆承载腔体设备,其特征在于,所述晶圆承载腔体设备还包括:
传感器支架(160),为折弯结构,所述传感器支架(160)包括相互连接的第一弯折部(161)和第二弯折部(162),所述第一弯折部(161)上开设有多个腰型孔(163),所述腰型孔(163)通过螺钉连接到所述晶圆承载腔体(110),所述传感器支架(160)可沿所述腰型孔(163)的长度方向在所述晶圆承载腔体(110)上滑动,所述第二弯折部(162)上开设有条形孔(164),所述滑片传感器(170)通过螺钉连接到所述条形孔(164)上,所述滑片传感器(170)可沿所述条形孔(164)的长度方向在传感器支架(160)上滑动。
6.根据权利要求5所述的晶圆承载腔体设备,其特征在于,所述腰型孔(163)的长度方向与所述条形孔(164)的长度方向相互垂直。
7.一种晶圆承载腔体设备的控制方法,其特征在于,所述控制方法应用于权利要求1所述的晶圆承载腔体设备,所述控制方法包括:
在装载晶圆的晶舟置于所述晶圆承载腔体(110)内的托盘(220)上之后,控制所述腔体密封门(120)关闭所述进出口(112);
对所述晶圆承载腔体(110)进行抽真空,并检漏;
在机械手夹取所述晶圆完成全部工艺之后,向所述晶圆承载腔体(110)内充入氮气清扫;
控制所述晶圆承载腔体(110)破真空,再打开所述腔体密封门(120)。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造





