[发明专利]一种反射镜光学高温计标定方法

说明书

本申请涉及一种反射镜光学高温计标定方法，包括：调节物体的温度至温度标定点T_b；以手持式红外温度计测量物体的温度T；以反射镜光学高温计测量物体的温度，在反射镜光学高温计上通过线缆连接稳压电源、电压表，利用电压表检测反射镜光学高温计在物体被遮挡时的输出电压值V₀，以及检测反射镜光学高温计在物体未被遮挡时的输出电压值V_s，以V_s‑V₀计算得到反射镜光学高温计中探测器测得的电压信号V；变换T_b，对应得到多组T_i、V_i；其中，T_i为第i个手持式红外温度计测量物体的温度；V_i为第i个反射镜光学高温计中探测器测得的电压信号；以使最小的λ、S_e，为物体的辐射波长、反射镜光学高温计系统效率的预定值，其中，n为温度标定点的个数。

技术领域

本申请属于反射镜光学高温计标定技术领域，具体涉及一种反射镜光学高温计标定方法。

背景技术

工程上多采用以下两种方法，对物体温度进行测量：

接触式测温法，应用热电偶、晶体、示温漆对物体温度进行测量，该种对物体温度进行测量的方法会破坏物体表面，影响物体上的温度分布，且以晶体、示温漆对物体温度进行测量，最终只能够物体的最高温度，不能够实现对物体温度的实时准确测量；

非接触式测温法，多是利用反射镜光学高温计对物体温度进行测量，该种对物体的温度测量方法不会破坏物体表面，不影响物体上的温度分布，且能够实现对物体温度的实时测量，其对物体的测温原理如下：

其中，

M(λ,T)为物体的辐射出射度；

ε为物体的发射率，黑体的辐射发射率为1；

λ为物体的辐射波长；

C1、C2为辐射常数；

T为物体的温度；

进一步，物体的辐射出射度M(λ,T)正比于反射镜光学高温计中反射镜接收的辐射能量，该辐射能量由反射镜光学高温计中探测器转变为相应的电压信号，即所得电压信号正比于物体的辐射出射度M(λ,T)，有：

其中，

V为反射镜光学高温计中探测器测得的电压信号；

s_e为反射镜光学高温计系统效率，其中合并有物体的发射率；

则有：

可表示为：

T＝f(λ,S_e,V)，即物体的温度为物体的辐射波长、射镜光学高温计系统效率、反射镜光学高温计中探测器测得电压信号的函数；

在实际利用反射镜光学高温计对物体温度进行测量时，多是根据经验预先设定物体的辐射波长、射镜光学高温计系统效率，或者使用反射镜光学高温计中预定的物体的辐射波长、射镜光学高温计系统效率，即将物体的辐射波长、射镜光学高温计系统效率设定为定值，在该种情形下，物体的温度可通过反射镜光学高温计中探测器测得电压信号求得，然而实际中，物体的辐射波长、射镜光学高温计系统效率是与物体温度、性质相关的变化值，仅据经验预先设定物体的辐射波长、射镜光学高温计系统效率，或者使用反射镜光学高温计中预定的物体的辐射波长、射镜光学高温计系统效率，难以保证温度测量的准确性。

鉴于上述技术缺陷的存在提出本申请。