[发明专利]一种单层二维碳化硅晶体制备方法在审
申请号: | 202211114433.0 | 申请日: | 2022-09-14 |
公开(公告)号: | CN115557502A | 公开(公告)日: | 2023-01-03 |
发明(设计)人: | 秦朋;孙韬;梅大江 | 申请(专利权)人: | 宁波日晟新材料有限公司 |
主分类号: | C01B32/984 | 分类号: | C01B32/984;C01B32/977;C01B32/963 |
代理公司: | 北京知艺互联知识产权代理有限公司 16137 | 代理人: | 余青 |
地址: | 315000 浙*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 单层 二维 碳化硅 晶体 制备 方法 | ||
1.一种单层二维碳化硅晶体制备方法,其特征在于,包括以下步骤:
S1、采用过渡金属作为衬底材料,将衬底材料清洗干净,去除衬底材料表面的氧化层后,置于反应炉内;
S2、将气相含碳化合物和气相含硅化合物作为原料通入密闭的反应炉内,将反应炉抽真空至真空度为1×10-5Pa-1×10-4Pa,然后向反应炉内通入保护气体;
S3、将反应炉升温到100℃-1000℃,保温10-100min,使得气相含碳化合物和气相含硅化合物在衬底材料上生长;
S4、以1℃/min-10℃/min的速率将反应率冷切到室温,得到单层二维碳化硅晶体材料。
2.根据权利要求1所述的一种单层二维碳化硅晶体制备方法,其特征在于:所述S1中,过渡金属为镍、铬、铁、铜、钨或其二元、三元、四元合金。
3.根据权利要求1所述的一种单层二维碳化硅晶体制备方法,其特征在于:所述S2中,气相含碳化合物为气化碳、一氧化碳、甲烷、乙烷、乙烯或乙炔中的一种或几种任意比例的混合气体。
4.根据权利要求1所述的一种单层二维碳化硅晶体制备方法,其特征在于:所述S2中,气相含硅化合物为气化硅、硅烷、硅氯烷中的一种或几种任意比例的混合气体。
5.根据权利要求1所述的一种单层二维碳化硅晶体制备方法,其特征在于:所述S2中,保护气体为氩气、氢气、氮气或氦气中的一种或几种任意比例的混合气体。
6.根据权利要求1所述的一种单层二维碳化硅晶体制备方法,其特征在于:所述S2中,气相含碳化合物与气相含硅化合物的摩尔比为1:10-10:1。
7.根据权利要求1所述的一种单层二维碳化硅晶体制备方法,其特征在于:所述S3中,反应炉的升温速率为10℃/min-30℃/min。
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