[发明专利]用于光学玻璃预制件的条纹检测方法有效

专利信息
申请号: 202211087317.4 申请日: 2022-09-07
公开(公告)号: CN115147429B 公开(公告)日: 2022-11-08
发明(设计)人: 卢敏雁;杨美华;韦军;高灵敏 申请(专利权)人: 深圳市欣冠精密技术有限公司
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T7/11;G06T7/136;G06T7/13;G06T7/168;G06V10/762;G06V10/764;G06V10/25;G01N21/88;G01N21/958
代理公司: 郑州芝麻知识产权代理事务所(普通合伙) 41173 代理人: 张丹丹
地址: 518000 广东省深圳市龙华区观湖街道松元*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 用于 光学玻璃 预制件 条纹 检测 方法
【权利要求书】:

1.用于光学玻璃预制件的条纹检测方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:

获取玻璃预制件图像,提取出玻璃作为感兴趣区域;对所述感兴趣区域进行阈值分割得到缺陷像素点;

对所述缺陷像素点进行分类,得到多个缺陷类别;根据所述缺陷类别内像素点的聚集程度将所述缺陷类别分为类牛眼缺陷类别和辐射状缺陷类别;

获取类牛眼缺陷类别中的类牛眼缺陷轮廓和类牛眼缺陷中心;由所述类牛眼缺陷轮廓对应的像素点数量、宽度和灰度均值计算所述类牛眼缺陷轮廓的第一破损程度;由所述类牛眼缺陷中心对应的像素点数量、宽度和灰度均值计算所述类牛眼缺陷中心的第二破损程度;所述第一破损程度和所述第二破损程度之和为类牛眼缺陷破损程度;

对所述辐射状缺陷类别进行圆形轮廓提取,获取第二类缺陷的最佳圆形轮廓;以所述最佳圆形轮廓包围的区域作为辐射状缺陷类别的中心区域,由所述中心区域的像素点数量和灰度均值计算所述中心区域的第三破损程度;以所述最佳圆形轮廓上的缺陷像素点作为聚类初始点,获取每个聚类初始点对应的辐射线条,由所述辐射线条对应的灰度均值、辐射线条总宽度和辐射线条总长度计算辐射线条的第四破损程度;所述第三破损程度和所述第四破损程度之和为辐射状缺陷破损程度;属于同一感兴趣区域的类牛眼缺陷破损程度和辐射状缺陷破损程度之和为玻璃破损程度。

2.根据权利要求1所述的用于光学玻璃预制件的条纹检测方法,其特征在于,所述对所述感兴趣区域进行阈值分割得到缺陷像素点,包括:

采用大津法对所述感兴趣区域进行灰度分割,得到最优分割阈值;灰度值大于所述最优分割阈值的像素点作为缺陷像素点。

3.根据权利要求1所述的用于光学玻璃预制件的条纹检测方法,其特征在于,所述根据所述缺陷类别内像素点的聚集程度将所述缺陷类别分为类牛眼缺陷类别和辐射状缺陷类别,包括:

选取任意缺陷类别内的任意缺陷像素点作为第一初始点,寻找对应的八邻域内的缺陷像素点作为第二初始点,寻找所述第二初始点对应的八邻域内除所述第一初始点外的缺陷像素点,作为第三初始点,寻找所述第三初始点对应的八邻域内除所述第一初始点和所述第二初始点外的缺陷像素点,作为第四初始点,重复寻找,直至新的初始点对应的八邻域内不包含缺陷像素点,完成寻找,得到对应的聚类集合;

当所述聚类集合中包含对应的缺陷类别内的所有缺陷像素点时,对应的缺陷类别为辐射状缺陷类别;

当所述聚类集合中未包含对应的缺陷类别内的所有缺陷像素点时,将未包含在缺陷类别内的聚类集合中其他的缺陷像素点作为独立像素点;当所述缺陷类别内的缺陷像素点的数量和所述独立像素点的数量小于预设阈值时,对应的缺陷类别为辐射状缺陷类别;当所述缺陷类别内的缺陷像素点的数量和所述独立像素点的数量大于等于所述预设阈值时,对应的缺陷类别为类牛眼缺陷类别。

4.根据权利要求1所述的用于光学玻璃预制件的条纹检测方法,其特征在于,所述获取类牛眼缺陷类别中的类牛眼缺陷轮廓和类牛眼缺陷中心,包括:

所述类牛眼缺陷类别包含多个聚类集合,获取类牛眼缺陷类别中最大行坐标的像素点对应的聚类集内作为类牛眼缺陷轮廓集合,由所述类牛眼缺陷轮廓集合内的像素点得到类牛眼缺陷轮廓;所述类牛眼缺陷类别对应的多个聚类集合中,除类牛眼缺陷轮廓外的其他聚类集合作为类牛眼缺陷中心集合,由所述类牛眼缺陷中心集合内的像素点得到类牛眼缺陷中心。

5.根据权利要求1所述的用于光学玻璃预制件的条纹检测方法,其特征在于,所述由所述类牛眼缺陷轮廓对应的像素点数量、宽度和灰度均值计算所述类牛眼缺陷轮廓的第一破损程度,包括:

所述第一破损程度的计算公式为:

其中,为所述第一破损程度;为类牛眼缺陷轮廓对应的像素点数量;为类牛眼缺陷轮廓对应的宽度;为类牛眼缺陷轮廓对应的灰度均值;为自然常数。

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