[发明专利]一种用于结构光传感器标定的DLP投影仪参数自调节方法

权利要求书

1.一种用于结构光传感器标定的DLP投影仪参数自调节方法，标定过程为：DLP投影仪和相机保持相对位置固定，标定板放置在相机位置前端，其上均布多个标志点；在结构光传感器的标定过程中，在每个标定位置均利用以下步骤对DLP参数进行调节，确定最终参数，利用其对DLP进行设置，向标定板表面投射条纹图像；利用现有方法实现结构光传感器的标定；

其特征在于，利用以下步骤对DLP参数进行调节：

S1、标定板摆放完成后，DLP投影仪按照预先存储的初始曝光参数、初始亮度参数向标定板投射测试图像；所述测试图像为纯色图像；

S2、相机采集测试图像，并将采集到测试图像发送到控制器；

S3、控制器获取测试图像中的过曝点数量，判断过曝点数量是否大于阈值I：

若否，则令当前曝光参数值加上预设的曝光步长b作为新的曝光参数值，DLP投影仪利用新的曝光参数值、初始亮度参数再次投射测试图像，并跳转执行步骤S2；

若是，则判断当前曝光参数值是否曾经加上过步长b：若加过，则令当前曝光参数值减去步长b作为最优曝光参数值，执行步骤S4；若未加过，则令当前曝光参数值减去数值C、作为新的曝光参数值，DLP投影仪利用新的曝光参数值、初始亮度参数投射测试图像，跳转执行步骤S2；其中，数值C大于步长b；

S4、DLP投影仪利用最优曝光参数值、待定亮度参数值向标定板投射测试图像；其中，待定亮度参数值的计算方法为：计算亮度调节值A和亮度调节值B的均值；

所述亮度调节值A的初始值为初始亮度参数值，亮度调节值B的初始值为投影仪额定亮度最大值；

S5、相机采集测试图像，并将采集到的测试图像发送到控制器；

S6、控制器获取测试图像中的过曝点数量，判断过曝点数量是否大于阈值I：

若是，则将待定亮度参数值赋值给亮度调节值B，并重新计算待定亮度参数值，DLP投影仪利用最优曝光参数值、新的待定亮度参数值向标定板投射测试图像，再跳转执行步骤S5；

若否，则判断当前待定亮度参数值与前一次计算的待定亮度参数值之间的差值是否小于预设亮度调节精度值：

若不小于，则将待定亮度参数值赋值给亮度调节值A，重新计算待定亮度参数值；DLP投影仪利用最优曝光参数值、新的待定亮度参数值向标定板投射测试图像，再跳转执行步骤S5；

若小于，则将当前待定亮度参数值作为最优亮度参数值；至此确定最终参数。

2.如权利要求1所述用于结构光传感器标定的DLP投影仪参数自调节方法，其特征在于：所述预设步长b的设置方式如下：

单次最小曝光时间+前暗时长+后暗时长≤b≤单次最大曝光时间+前暗时长+后暗时长；其中，单次最小曝光时间、单次最大曝光时间、前暗时长和后暗时长为DLP投影仪的额定参数值。

3.如权利要求1所述用于结构光传感器标定的DLP投影仪参数自调节方法，其特征在于：过曝点为灰度值≥255的像素点，所述阈值I为经验值，取值为1.5％～2.5％总像素点数；

所述预设步长b根据经验值设置；

所述初始亮度参数取值(0.6～0.9)×投影仪额定亮度最大值；

步骤S6中，预设亮度调节精度值取值为1～10。

4.如权利要求2或3所述用于结构光传感器标定的DLP投影仪参数自调节方法，其特征在于：所述初始曝光参数取值为0～3b。

5.如权利要求1所述用于结构光传感器标定的DLP投影仪参数自调节方法，其特征在于：过曝点为利用以下方式标记出的标志点：

在图像中查找单个标志点所在的连通域，在单个标志点连通域中的统计各像素点的灰度值，将灰度值≥灰度阈值的点记为过曝像素点，若过曝像素点在当前标志点连通域像素点总数中的占比大于预设值II，则标记当前标志点为过曝点；遍历各个标志点，采样相同的判断方式，标记出各个过曝点。

6.如权利要求5所述用于结构光传感器标定的DLP投影仪参数自调节方法，其特征在于：所述标定板为黑色背景白色标志点，所述阈值I为2.5％～5％总标志点数；灰度阈值设置为255，预设值II设置为0.1～0.3。