[发明专利]一种卡扣到位检测方法、装置、设备及其系统

权利要求书

1.一种卡扣到位检测方法，其特征在于，包括：

获取待测卡扣图像、匹配模板和匹配参数，所述匹配模板包括：模板卡扣公端中的至少一个模板公端感兴趣区域和模板卡扣母端中的至少一个模板母端感兴趣区域，所述匹配参数包括：所述模板公端感兴趣区域和所述模板母端感兴趣区域之间的模板距离参数；

根据所述匹配模板，采用匹配算法确定所述待测卡扣图像中的待测卡扣公端中的待测公端感兴趣区域和所述待测卡扣图像中的待测卡扣母端中的待测母端感兴趣区域，所述待测公端感兴趣区域与所述模板公端感兴趣区域对应，所述待测母端感兴趣区域与所述模板母端感兴趣区域对应；

根据所述待测公端感兴趣区域和所述待测母端感兴趣区域在所述待测卡扣图像上的位置信息，得到所述待测公端感兴趣区域和所述待测母端感兴趣区域之间的待测距离参数；

计算所述模板距离参数与所述待测距离参数之间的误差值；

判断所述误差值是否超出阈值范围，若是则确定所述待测卡扣图像中的卡扣存在到位缺陷。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，至少一个所述模板公端感兴趣区域和至少一个所述模板母端感兴趣区域包括：一个模板公端感兴趣区域和两个模板母端感兴趣区域；

所述模板距离参数包括：两个所述模板公端感兴趣区域分别与所述模板母端感兴趣区域在第一方向上的相对距离，或/和两个所述模板公端感兴趣区域分别与所述模板母端感兴趣区域在第二方向上的相对距离；

其中，所述第一方向与所述第二方向垂直，所述模板卡扣公端与所述模板卡扣母端沿第一方向连接，所述待测卡扣公端与所述待测卡扣母端沿第一方向连接；

至少一个所述待测公端感兴趣区域和至少一个所述待测母端感兴趣区域包括：一个待测公端感兴趣区域和两个待测母端感兴趣区域；

所述待测距离参数包括：两个待测公端感兴趣区域分别与待测母端感兴趣区域在第一方向上的相对距离，或/和两个所述待测公端感兴趣区域分别与所述待测母端感兴趣区域在第二方向上的相对距离。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述获取待测卡扣图像、匹配模板和匹配参数的步骤之前，所述方法还包括：

在所述模板卡扣图像中截取至少一个所述模板公端感兴趣区域和至少一个所述模板母端感兴趣区域；

根据至少一个所述模板公端感兴趣区域和至少一个所述模板母端感兴趣区域，创建所述匹配模板。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述匹配算法包括：归一化互相关匹配法。

5.根据权利要求1至4任一项所述的方法，其特征在于，在所述判断所述误差值是否超出阈值范围的步骤之后，所述方法还包括：

将判断结果进行保存。

6.一种卡扣到位检测装置，其特征在于，包括：

获取模块，被配置为获取待测卡扣图像、匹配模板和匹配参数，所述匹配模板包括：模板卡扣公端中的至少一个模板公端感兴趣区域和模板卡扣母端中的至少一个模板母端感兴趣区域，所述匹配参数包括：至少一个模板公端感兴趣区域和至少一个模板母端感兴趣区域之间的模板距离参数；

匹配模块，被配置为根据所述匹配模板，匹配算法确定所述待测卡扣图像中的待测卡扣公端中的至少一个待测公端感兴趣区域和模板卡扣母端中的至少一个待测母端感兴趣区域，至少一个所述待测公端感兴趣区域和至少一个所述待测母端感兴趣区域分别与至少一个所述模板公端感兴趣区域和至少一个模板母端感兴趣区域一一对应；

测距模块，被配置为根据至少一个所述待测公端感兴趣区域和至少一个所述待测母端感兴趣区域在待测卡扣图像上的位置信息，得到至少一个所述待测公端感兴趣区域和至少一个所述待测母端感兴趣区域之间的待测距离参数；

计算模块，被配置为计算所述模板距离参数与对应的待测距离参数误差值；

判断模块，被配置为判断所述误差值是否超出阈值范围，若是则确定待测卡扣图像中的待测卡扣存在到位缺陷。