[发明专利]一种体积测量方法、装置、设备及计算机可读存储介质

权利要求书

1.一种体积测量方法，其特征在于，包括：

控制深度相机拍摄目标物体，得到所述目标物体的第一深度图像；

去除所述第一深度图像中的背景，得到第二深度图像；

检测所述第二深度图像中所述目标物体的平面；

计算所述目标物体的平面的平整度和矩形度；

根据所述平整度和所述矩形度，判断所述目标物体为规则物体或非规则物体；

若所述目标物体为规则物体，根据规则物体计算方法计算所述目标物体的体积；

若所述目标物体为非规则物体，且所述深度相机的拍摄角度在预设角度范围内，根据非规则物体计算方法计算所述目标物体的体积。

2.根据权利要求1所述的体积测量方法，其特征在于，在所述控制深度相机拍摄目标物体，得到所述目标物体的第一深度图像的步骤之前，所述的体积测量方法包括：

获取测量模式，所述测量模式包括测量规则物体和不规则物体的第一模式、及只测量规则物体的第二模式；

若测量模式为所述第一模式，则执行权利要求1所述的步骤；

若测量模式为所述第二模式，则控制所述深度相机拍摄所述目标物体，得到所述目标物体的第三深度图像；

检测所述第三深度图像中所述目标物体的平面；

计算所述目标物体的平面的平整度和矩形度；

根据所述平整度和所述矩形度，判断所述目标物体为规则物体或非规则物体；

若所述目标物体为规则物体，根据所述规则物体计算方法计算所述目标物体的体积。

3.根据权利要求2所述的体积测量方法，其特征在于，若所述测量模式为所述第二模式，且根据所述平整度和所述矩形度判断所述目标物体为非规则物体，所述的体积测量方法还包括：

提示测量失败和/或调整测量模式。

4.根据权利要求1或2所述的体积测量方法，其特征在于，所述计算所述目标物体的平面的平整度和矩形度的步骤，包括：

检测每个所述平面上的所有点；

根据所述所有点中的至少部分点确定每个所述平面的平面空间方程；

根据每个所述平面的所述平面空间方程，确定基准平面；

根据所述基准平面及所述基准平面上的所有点，计算所述基准平面的平整度及矩形度；

所述根据所述平整度和所述矩形度，判断所述目标物体为规则物体或非规则物体的步骤包括：

若所述平整度和所述矩形度均满足预设条件，判定所述目标物体为规则物体；

若所述平整度和所述矩形度至少之一不满足预设条件，判定所述目标物体为非规则物体。

5.根据权利要求4所述的体积测量方法，其特征在于，所述根据所述基准平面及所述基准平面上的所有点，计算所述基准平面的平整度及矩形度的步骤，包括：

获取所述基准平面上的所有点至所述基准平面的距离；

根据所述所有点至所述基准平面的距离，计算所述基准平面的平整度；

将所述基准平面上的所有点投影至所述基准平面，得到多个第一投影点；

根据多个所述第一投影点，计算所述基准平面的矩形度。