[发明专利]液晶天线、其介电常数测量方法及其驱动方法

说明书

本申请实施例提供了一种液晶天线、其介电常数测量方法及其驱动方法。液晶天线包括多个天线单元，驱动电路包括多个控制单元，每个控制单元与一个天线单元中的可调电容的第一端电连接，控制单元被配置为在液晶天线的介电常数测量阶段，当接收到充电信号时以相应的电压向可调电容充电，并在接收到测量信号时对可调电容的充电量进行检测；控制单元还被配置为在液晶天线的工作阶段，当接收到控制信号时以接收到的工作电压向可调电容充电，以使可调电容对应的天线单元以相应的相位辐射电磁波。本实施例能够温度对液晶天线的性能的影响，提升液晶天线的性能，且不会影响液晶天线的体积，从而避免液晶天线的应用受限。

技术领域

本申请涉及液晶天线技术领域，具体而言，本申请涉及一种液晶天线、其介电常数测量方法及其驱动方法。

背景技术

液晶材料是液晶天线的核心材料，对液晶天线的性能影响巨大。以微波液晶材料为例，微波液晶材料的介电常数随温度变化，若不能消除温度对液晶材料的介电常数的影响，则液晶天线的性能必然受到影响。

现有技术中针对温度对液晶材料的影响有多种解决方式。例如将液晶材料不同温度下的介电常数数据存储，并通过温传感器测量液晶温度来获取当前温度下液晶材料的介电常数，但该方法的准确度不高。也试图通过开发介电常数随温度变化小的液晶新材料来解决上述问题，但效果并不理想。还可以通过设置温控装置使液晶材料处于恒温状态来消除温度对介电常数的影响，但会增加液晶天线体积使液晶天线的应用场景受限。

也就是并不能很好地解决温度对液晶材料的介电常数的影响，使得液晶天线的性能受到影响。

发明内容

本申请针对现有方式的缺点，提出一种液晶天线、其介电常数测量方法及其驱动方法，用以解决现有技术中不能很好地解决温度对液晶材料的介电常数的影响，使得液晶天线的性能受到影响的技术问题。

第一个方面，本申请实施例提供了一种液晶天线，所述液晶天线包括第一区域和第二区域，所述液晶天线包括第一基板、与所述第一基板相对设置的第二基板以及位于所述第一基板和所述第二基板之间的液晶层，所述液晶层位于所述第一区域且所述第一基板和所述第二基板形成位于所述第一区域的多个所述天线单元，所述天线单元包括以所述液晶层作为介电材料的可调电容；

所述第一基板和/或所述第二基板上设置有驱动电路，所述驱动电路位于所述第二区域，所述驱动电路包括多个控制单元，每个所述控制单元与一个所述天线单元电连接；

所述控制单元被配置为在所述液晶天线的介电常数测量阶段，当接收到充电信号时以相应的电压向所述可调电容充电，并在接收到测量信号时对所述可调电容的充电量进行检测；

所述控制单元还被配置为在所述液晶天线的工作阶段，当接收到控制信号时以接收到的工作电压向所述可调电容充电，以使所述可调电容对应的天线单元以相应的相位辐射电磁波。

可选地，每个所述控制单元与一个天线单元中的可调电容的第一端电连接，所述可调电容的第二端接地；所述的驱动电路包括多条数据线、多条测量学以及多组栅极线，每组栅极线包括第一栅极线和第二栅极线，所述控制单元包括：

第一晶体管，栅极与所述第一栅极线电连接，第一极与所述数据线电连接，第二极与所述可调电容的第一端电连接；

第二晶体管，栅极与所述第二栅极线电连接，第一极与所述测量线电连接，第二极与所述可调电容的第一端电连接。

可选地，多个所述控制单元排列为M行，每行所述控制单元中的各所述第一晶体管的栅极连接至同一所述第一栅极线，每行所述控制单元中的各所述第二晶体管的栅极连接至同一所述第二栅极线；当前行的所述第二栅极线复用为下一行的所述第一栅极线。