[发明专利]液晶天线、其介电常数测量方法及其驱动方法在审
| 申请号: | 202210457546.4 | 申请日: | 2022-04-27 |
| 公开(公告)号: | CN114883794A | 公开(公告)日: | 2022-08-09 |
| 发明(设计)人: | 王志东;曲峰;周全国;周丽佳;唐浩;孙秀茹;张青;朱学辉 | 申请(专利权)人: | 京东方科技集团股份有限公司 |
| 主分类号: | H01Q1/38 | 分类号: | H01Q1/38;H01Q1/50;H01Q1/36;G01R27/26 |
| 代理公司: | 北京市立方律师事务所 11330 | 代理人: | 张筱宁;王存霞 |
| 地址: | 100015 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 液晶 天线 介电常数 测量方法 及其 驱动 方法 | ||
1.一种液晶天线,其特征在于,包括第一区域和第二区域,所述液晶天线包括第一基板、与所述第一基板相对设置的第二基板以及位于所述第一基板和所述第二基板之间的液晶层,所述液晶层位于所述第一区域且所述第一基板和所述第二基板形成位于所述第一区域的多个所述天线单元,所述天线单元包括以所述液晶层作为介电材料的可调电容;
所述第一基板和/或所述第二基板上设置有驱动电路,所述驱动电路位于所述第二区域,所述驱动电路包括多个控制单元,每个所述控制单元与一个所述天线单元电连接;
所述控制单元被配置为在所述液晶天线的介电常数测量阶段,当接收到充电信号时以相应的电压向所述可调电容充电,并在接收到测量信号时对所述可调电容的充电量进行检测;
所述控制单元还被配置为在所述液晶天线的工作阶段,当接收到控制信号时以接收到的工作电压向所述可调电容充电,以使所述可调电容对应的天线单元以相应的相位辐射电磁波。
2.根据权利要求1所述的液晶天线,其特征在于,
每个所述控制单元与一个天线单元中的可调电容的第一端电连接,所述可调电容的第二端接地;
所述驱动电路包括多条数据线、多条测量学以及多组栅极线,每组栅极线包括第一栅极线和第二栅极线,所述控制单元包括:
第一晶体管,栅极与所述第一栅极线电连接,第一极与所述数据线电连接,第二极与所述可调电容的第一端电连接;
第二晶体管,栅极与所述第二栅极线电连接,第一极与所述测量线电连接,第二极与所述可调电容的第一端电连接。
3.根据权利要求2所述的液晶天线,其特征在于,多个所述控制单元排列为M行,每行所述控制单元中的各所述第一晶体管的栅极连接至同一所述第一栅极线,每行所述控制单元中的各所述第二晶体管的栅极连接至同一所述第二栅极线;
当前行的所述第二栅极线复用为下一行的所述第一栅极线。
4.根据权利要求1所述的液晶天线,其特征在于,
所述第一基板包括第一介质基板、位于所述第一介质基板靠近所述第二基板一侧的辐射贴片以及位于所述辐射贴片靠近所述第二基板一侧的第一取向层;
所述第二基板包括第二介质基板、位于所述第二介质基板靠近所述第一基板一侧的导带、位于所述导带靠近所述第一基板一侧的第二取向层以及位于所述第二介质基板远离所述第一基板一侧的接地层,所述导带在所述第一介质基板上的正投影与所述辐射贴片在所述第一介质基板上的正投影交叠。
5.根据权利要求4所述的液晶天线,其特征在于,所述导带或所述辐射贴片为所述可调电容的第一端;
所述辐射贴片在所述第二介质基板上的正投影位于所述导带在所述第二介质基板;或者
所述辐射贴片在所述第二介质基板上的正投影与所述导带在所述第二介质基板上的正投影部分交叠。
6.根据权利要求5所述的液晶天线,其特征在于,
多个所述天线单元排列为M行N列的矩形阵列,每行所述天线单元与同一第一栅极线以及同一第二栅极线电连接,每列所述天线单元与同一数据线以及同一测量线电连接。
7.根据权利要求5所述的液晶天线,其特征在于,
多个所述天线单元分布在M个同心圆上,相邻两个同心圆的直径差恒定;
位于同一同心圆上的各所述天线单元与同一第一栅极线以及同一第二栅极线电连接,位于同一沿半径方向延伸的直线上的各所述天线单元与同一数据线以及同一测量线电连接。
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