[发明专利]基于计算机视觉的PCB钻孔偏移检测方法有效
申请号: | 202210455095.0 | 申请日: | 2022-04-28 |
公开(公告)号: | CN114565610B | 公开(公告)日: | 2022-07-08 |
发明(设计)人: | 欧志鹏;权慧;龙富强;李灶保;聂小兵 | 申请(专利权)人: | 惠州威尔高电子有限公司 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06T7/60;G06T7/70 |
代理公司: | 广州市时代知识产权代理事务所(普通合伙) 44438 | 代理人: | 刁益帆;陈惠珠 |
地址: | 516155 广东省惠州*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 计算机 视觉 pcb 钻孔 偏移 检测 方法 | ||
1.基于计算机视觉的PCB钻孔偏移检测方法,其特征在于,该方法包括:
获取待测PCB板及合格PCB板对应的钻孔区域图像;
以钻孔区域图像中每个钻孔为中心钻孔,根据中心钻孔与其他所有钻孔之间的距离构建待测PCB板上每个中心钻孔对应的待测无序数组、合格PCB板上每个中心钻孔对应的合格无序数组;
根据待测无序数组中的距离与合格无序数组中的距离确定存在中心钻孔偏移的偏移无序数组,根据每个偏移无序数组中的距离与每个合格无序数组中的距离获取偏移无序数组在合格无序数组对应的最终数组;其中,根据待测无序数组中的距离与合格无序数组中的距离确定存在中心钻孔偏移的偏移无序数组的步骤包括:当所有合格无序数组没有任何一个距离与待测无序数组中的所有距离相等,则待测无序数组对应的中心钻孔偏移;当其中一个合格无序数组中有部分距离与待测无序数组中的部分距离相等、有部分距离与待测无序数组中的部分距离不相等,则待测无序数组对应的中心钻孔未偏移;当其中一个合格无序数组中有所有距离与待测无序数组中的所有距离相等,则待测无序数组对应的中心钻孔可能偏移;将偏移的中心钻孔、可能偏移的中心钻孔对应的待测无序数组记为偏移无序数组;其中,根据每个偏移无序数组中的距离与每个合格无序数组中的距离获取偏移无序数组在合格无序数组对应的最终数组的步骤包括:计算每个待测无序数组中距离的待测均值;计算每个合格无序数组中距离的合格均值;获取待测均值和合格均值的差值;将最小差值对应的合格无序数组记为最终数组;
根据偏移无序数组的每个距离与最终数组中每个距离确定偏移无序数组与最终数组对应的钻孔,根据偏移无序数组中钻孔与中心钻孔之间、最终数组中对应的钻孔与中心钻孔之间的所有像素点的梯度幅值、距离确定偏移无序数组中未偏移的钻孔及数量;其中,根据偏移无序数组的每个距离与最终数组中每个距离确定偏移无序数组与最终数组对应的钻孔的步骤包括:获取偏移无序数组的每个距离与最终数组中每个距离的距离差;获取每个距离对应的所有距离差中最小距离差;获取最小距离差对应的偏移无序数组的最终距离、最终数组中的最终距离;获取偏移无序数组的最终距离对应的钻孔与最终数组中的最终距离对应的钻孔,该两个钻孔为对应的钻孔;
根据偏移无序数组中的中心钻孔位置、未偏移钻孔的位置及数量与对应的最终数组中的中心钻孔位置及对应的钻孔的位置计算中心钻孔的偏移程度,根据偏移程度确定中心钻孔的可靠程度;
根据每个偏移无序数组中所有距离的均值及最大距离值计算中心钻孔的重要程度;
根据重要程度和可靠程度计算每个偏移的中心钻孔对PCB板的影响程度,根据影响程度及预设的影响程度阈值确定PCB板的质量。
2.根据权利要求1所述的基于计算机视觉的PCB钻孔偏移检测方法,其特征在于,根据偏移无序数组中钻孔与中心钻孔之间、最终数组中对应的钻孔与中心钻孔之间的所有像素点的梯度幅值、距离确定待测无序数组中未偏移的钻孔的步骤包括:
对偏移无序数组、最终数组中钻孔与中心钻孔之间的所有像素点的梯度幅值进行求和得到偏移无序数组对应的钻孔与中心钻孔之间的距离幅值、最终数组对应的钻孔与中心钻孔之间的距离幅值;
根据偏移无序数组中钻孔与中心钻孔之间的距离幅值、距离及最终数组中对应的钻孔与中心钻孔之间的所有像素点的距离幅值、距离计算两个距离的对应度;
根据对应度及预设的对应度阈值确定待测无序数组中未偏移的钻孔。
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