[发明专利]一种导电粒子压痕检测设备

说明书

本发明公开了一种导电粒子压痕检测设备，包括底座、检测机构及送检机构，所述检测机构包括线扫驱动组件、相机载台、偏移检测组件及粒子检测组件，所述偏移检测组件和粒子检测组件分别相向设置在所述相机载台的上侧和下侧，所述线扫驱动组件用于带动所述相机载台沿检测方向移动进行线扫检测，所述送料组件用于将待测样品输送至所述偏移检测组件和粒子检测组件之间。本发明提供一种导电粒子压痕检测设备，通过送检机构进行送料，由线扫驱动组件带动粒子检测相机和偏移检测相机自动进行线扫检测，取代人力，排除人为参与对产品接触的不良影响，不会对产品造成损伤，减小劳动强度，节省成本。

技术领域

本发明涉及光学检测技术领域，具体涉及一种导电粒子压痕检测设备。

背景技术

随着现代社会的高速发展，人们生活的丰富绚丽，满足人们生活的各种现代产品越来越多，其中电子产品占据了很大一部分，电子产品上的显示屏以液晶屏为主，液晶屏的使用效果直接体现在屏的品质上，品质体现在一道道加工及检测工艺中，目前绝大多数液晶盒玻璃和IC器件的连接都采用COG技术(晶粒-玻璃接合技术)，在COG技术中主要是利用ACF(各向异性导电膜)进行连接，其粒子排列是否均匀决定了品质的高低，因此检测过程十分重要，目前对COG技术中的导电粒子检测主要为人工通过显微镜对热压后的粒子进行观察，判断压痕是否合格，导电粒子是否均匀，但是人工判断的主观性很大，人眼长时间观察出错的概率也极大，最主要的是产品的品质很难稳定掌控，品质一致性差。

发明内容

本发明的目的在于提供一种导电粒子压痕检测设备用于解决上述问题。

为实现上述目的，本发明采用以下技术方案：

一种导电粒子压痕检测设备，包括底座、检测机构及送检机构，所述检测机构包括线扫驱动组件、相机载台、偏移检测组件及粒子检测组件，所述偏移检测组件和粒子检测组件分别相向设置在所述相机载台的上侧和下侧，所述线扫驱动组件用于带动所述相机载台沿检测方向移动进行线扫检测，所述送料组件用于将待测样品输送至所述偏移检测组件和粒子检测组件之间。

优选地，所述线扫驱动组件包括横移模组和横移台，所述横移模组固设在所述底座上用于驱动所述横移台沿水平横向移动，所述相机载台设置在所述横移台上。

优选地，所述相机载台包括升降模组和安装基台，所述升降模组固设在所述横移台上用于驱动所述安装基台沿竖直方向升降，所述安装基台的上侧和下侧分别设有上连接架和下连接架，所述偏移检测组件和粒子检测组件分别设置在所述上连接架和下连接架上。

优选地，所述偏移检测组件包括第一调节台、第一安装架及偏移检测相机，所述第一调节台固设在所述上连接架上用于调节所述第一安装架的位置，所述偏移检测相机设置在所述第一安装架上，所述偏移检测相机的检测镜头朝下。

优选地，所述粒子检测组件包括第二调节台、激光安装架、激光发射器、激光控制器、第二安装架及粒子检测相机，所述第二调节台固设在所述下连接架上用于调节所述激光安装架的位置，所述激光发射器设置在所述激光安装架上，且其通过所述激光控制器控制，所述激光发射器包括相向设置的左发射头和右发射头，且发射角度均倾斜向上，所述粒子检测相机通过所述第二安装架固设在所述下连接架上，且所述粒子检测相机的检测镜头朝上，并位于所述左发射头和右发射头之间。

优选地，所述第一调节台和第二调节台均包括两组叠加设置的调节组件，且其中一组所述调节组件沿水平横向进行调节，另一组所述调节组件沿竖直升降进行调节，所述调节组件包括固定板、调节板及微调旋钮，所述调节板滑动设置在所述固定板上，所述固定板沿滑动方向的一侧设有第一接头，所述调节板沿滑动方向的一侧设有第二接头，所述微调旋钮的一端固定连接在所述第一接头上，另一端连接有所述第二接头。

优选地，所述检测机构还包括CCD定位相机，所述CCD定位相机通过第三安装架固设在横移台上用于获取待测物位置信息。