[发明专利]一种用于测距的图像处理方法

说明书

本申请提供了一种用于测距的图像处理方法，用于基于测距图像获取被测物体的厚度，所述被测物体由透明材质制成，包括：使用激光传感器向被测物体发出激光光束；获取被测物体反射的光束的2个光斑的像素位置和对应的电压值，基于第一设定电压阈值将两个光斑的电压值分开形成两个电压值集；基于灰度质心算法获取两个电压值集对应的像素位置集的质心，根据质心和三角测距原理获取激光发射器与被测物体上的前表面和后表面距离L1和L2；基于L₁和L₂获取被测物体的厚度。本申请充分利用了多重反射获取被测物体的厚度，能够降低测厚成本。

技术领域

本申请涉及光学测量技术领域，具体涉及一种用于测距的图像处理方法。

背景技术

现实生活中，需要对很多产品的厚度进行测量，以确保产品质量合格。目前，常用的测厚方法为根据光谱共焦方法测量被测物体的厚度，该测厚方法使用激光发射器向被测物体发出激光光束，经过色散透镜将所述激光光束分成多个激光光束打在被测物体上表面，被测物体离所述激光发射器的距离需满足该波长的激光光束的汇聚点在被测物体上，该波长激光光束才会被反射回去，根据反射回去的激光光束的波长获取被测物体的厚度，通过光谱共焦的方法获取被测物体的厚度精度较高，但是该方法获取被测物的厚度的成本较高，且多个波长不同的激光光束的汇聚点均在被测物体上，量程短，不适合用来测量距离远、厚度大的被测物体。

发明内容

针对上述技术问题，本申请实施例提供一种用于测距的图像处理方法，用于至少解决上述技术问题之一。

本申请采用的技术方案为：

本申请实施例提供一种用于测距的图像处理方法，用于基于测距图像获取被测物体的厚度，所述被测物体由透明材质制成，包括平行设置的前表面和后表面，所述方法包括如下步骤：

S1，使用激光发射器向被测物体的前表面发射激光光束，所述被测物体的反射率被设置为使得所述激光光束分别通过所述被测物体的前表面和后表面形成2次反射；

S2，使用线阵图像传感器获取2次反射后形成的第一光斑和第二光斑，即形成2个光斑。

S3，获取所述线阵图像传感器上的两个光斑中的每个像素的位置和电压值，分别形成像素位置集形成S=（S₁，S₂，S₃，……，S_m）和对应的电压值集U=（U₁，U₂，U₃，……，U_m），S_i为第i个像素的位置，i的取值为1到m，m为2个光斑中的像素数量；U_i为S_i对应的电压值；

S4，遍历U，基于第一设定电压阈值K1获取第一电压值组U₁=（U¹₁，U²₁，…，U^k1₁）和第二电压值组U₂=（U¹₂，U²₂，…，U^k2₂），其中，U^j₁为U₁中的第j个电压值，U^j₁≥K1，j的取值为1到k1，k1为U₁中的电压值的数量；U^t₂为U₂中的第t个电压值，U^t₂≥K1，t的取值为1到k2，k2为U₂中的电压值的数量；