[发明专利]一种用于测距的图像处理方法有效

专利信息
申请号: 202210387883.0 申请日: 2022-04-14
公开(公告)号: CN114494407B 公开(公告)日: 2022-07-22
发明(设计)人: 代红林 申请(专利权)人: 宜科(天津)电子有限公司
主分类号: G06T7/66 分类号: G06T7/66;G06T7/60;G06T7/521;G01B11/06
代理公司: 北京锺维联合知识产权代理有限公司 11579 代理人: 黄利萍
地址: 300385 天津市*** 国省代码: 天津;12
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 测距 图像 处理 方法
【权利要求书】:

1.一种用于测距的图像处理方法,其特征在于,用于基于测距图像获取被测物体的厚度,所述被测物体由透明材质制成,包括平行设置的前表面和后表面,所述方法包括如下步骤:

S1,使用激光发射器向被测物体的前表面发射激光光束,所述被测物体的反射率被设置为使得所述激光光束分别通过所述被测物体的前表面和后表面形成2次反射;

S2,使用线阵图像传感器获取2次反射后形成的第一光斑和第二光斑,即形成2个光斑;

S3,获取所述线阵图像传感器上的两个光斑中的每个像素的位置和电压值,分别形成像素位置集形成S=(S1,S2,S3,……,Sm)和对应的电压值集U=(U1,U2,U3,……,Um),Si为第i个像素的位置,i的取值为1到m,m为2个光斑中的像素数量;Ui为Si对应的电压值;

S4,遍历U,基于第一设定电压阈值K1获取第一电压值组U1=(U11,U21,…,Uk11)和第二电压值组U2=(U12,U22,…,Uk22),其中,Uj1为U1中的第j个电压值,Uj1≥K1,j的取值为1到k1,k1为U1中的电压值的数量;Ut2为U2中的第t个电压值,Ut2≥K1,t的取值为1到k2,k2为U2中的电压值的数量;

S5,基于U1中的U11和Uk11,从U中获取位于U11之前的均大于或均大于等于K2的p1个电压值并加入到U11的前面以及获取位于Uk11之后的均大于或均大于等于K2的p1个后电压值并加入到Uk11的后面,形成第一目标电压值组;K2为第二设定电压阈值,K2<K1;

S6,基于U2中的U12和Uk22,从U中获取位于U12之前的均大于或均大于等于K2的p2个电压值并加入到U12的前面以及获取位于Uk22之后的均大于或均大于等于K2的p2个后电压值并加入到Uk22的后面,形成第二目标电压值组;其中,第一目标电压值组中的最后一个电压值和第二目标电压值组中的第一个电压值之间至少间隔p3个电压值;

S7,基于第一目标电压值组和第二目标电压值组获取对应的第一像素位置组和第二像素位置组,并基于获取的第一像素位置组和第二像素位置组计算对应的第一质心位置和第二质心位置;

S8,基于计算的第一质心位置、第二质心位置和三角测量原理获取激光发射器与被测物体的前表面和后表面之间的第一距离L1和第二距离L2;

S9,获取∣L2-L1∣作为所述被测物体的厚度。

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