[发明专利]一种实现芯片检测的方法、装置、计算机存储介质及终端

说明书

本文公开一种实现芯片检测的方法、装置、计算机存储介质及终端，包括：对处于静态测试的工作量证明（PoW）芯片，针对每一个第一逻辑计算单元（ALU），获取第一ALU读取的第一数据，第一数据根据预设的内存地址从第一存储块读取；根据确定的第一ALU数据读取的正确率，确定用于工作量证明运算的第一ALU；其中，第一ALU为待检测的PoW芯片中的任一ALU；内存地址包括：根据地址线和/或传输数据的数据线的分布确定的预设数量的地址。本发明实施例通过预设的内存地址的数据读取判断第一ALU是否用于工作量证明运算，减少了PoW芯片的检测时长；进一步，通过对芯片其他部分的逐步检测，避免了其他组成对芯片当前功能单元造成影响。

技术领域

本文涉及但不限于芯片检测技术，尤指一种实现芯片检测的方法、装置、计算机存储介质及终端。

背景技术

工作量证明（PoW）算法一般需要大容量内存和大量的通道数量，因此PoW芯片往往具有以下特点：1）集成较多计算单元（ALU）；2）集成较多存储控制单元；3）集成全连接控制单元。PoW芯片集成的功能单元数越多，在芯片生产过程中，可能会造成一些功能单元发生问题，即芯片差异。

通常工作量证明芯片的检测方法有：1）可测性设计（DFT），DFT能快速检测芯片内部的连线是否正确连接，但不对芯片的功能是否正常进行检测；2）通过设计功能测试脚本程序对每个功能单元进行测试，如果通过检测确定功能单元失效，则对失效的功能单元进行标记；由于芯片中的功能单元互相影响，当出现一个功能单元失效的情况时，单次测试无法判断是该功能单元失效，还是由其他功能单元的失效造成，因此需要尽量对每个功能单元进行检测，因此存在测试时间长的问题；此外，上述方法无法对使用中的芯片进行实时检测，当芯片在使用过程中出现的新失效的功能单元时，则无法确定出失效的功能单元。

发明内容

以下是对本文详细描述的主题的概述。本概述并非是为了限制权利要求的保护范围。

本发明实施例提供一种实现芯片检测的方法、装置、计算机存储介质及终端，能够减少PoW芯片的检测时长。

本发明实施例提供了一种实现芯片检测的方法，包括：

对处于静态测试的工作量证明PoW芯片，针对每一个第一逻辑计算单元ALU，获取第一ALU读取的第一数据，所述第一数据根据预设的内存地址从第一存储块读取；

根据获取的第一ALU读取的第一数据，确定第一ALU数据读取的正确率；

根据确定的第一ALU数据读取的正确率，确定用于工作量证明运算的第一ALU；

确定用于工作量证明运算的第一ALU之后，逐步确定可用于工作量证明运算的第一存储块、第一下端子和第一上端子；

其中，所述第一ALU为待检测的PoW芯片中的任一ALU；所述内存地址包括：根据地址线和/或传输数据的数据线的分布确定的预设数量的地址；所述第一下端子为所述PoW芯片的全连接控制模块中与所述第一存储块连接的下端子；所述第一上端子为所述PoW芯片的全连接控制模块中与所述第一ALU连接的上端子。

在一种示例性实例中，所述确定用于工作量证明运算的第一ALU，包括：

第一ALU数据读取的正确率大于预设的正确率阈值时，确定第一ALU用于工作量证明运算。

在一种示例性实例中，所述逐步确定可用于工作量证明运算的第一存储块、第一下端子和第一上端子，包括对确定用于工作量证明运算的第一ALU以外的每一个第一ALU，通过以下检测确定可用于工作量证明运算的第一存储块和第一下端子：

获取每一个第二ALU读取的第二数据，所述第二数据根据各第二ALU相应的内存地址从所述第一存储块读取；

根据各所述第二ALU读取的第二数据，分别确定每一个所述第二ALU相应的数据读取的正确率；