[发明专利]一种实现芯片检测的方法、装置、计算机存储介质及终端

权利要求书

1.一种实现芯片检测的方法，包括：

对处于静态测试的工作量证明PoW芯片，针对每一个第一逻辑计算单元ALU，获取第一ALU读取的第一数据，第一数据根据预设的内存地址从第一存储块读取；

根据获取的第一ALU读取的第一数据，确定第一ALU数据读取的正确率；

根据确定的第一ALU数据读取的正确率，确定用于工作量证明运算的第一ALU；

确定用于工作量证明运算的第一ALU之后，逐步确定可用于工作量证明运算的第一存储块、第一下端子和第一上端子；

其中，所述第一ALU为待检测的PoW芯片中的任一ALU；所述内存地址包括：根据地址线和/或传输数据的数据线的分布确定的预设数量的地址；所述第一下端子为所述PoW芯片的全连接控制模块中与所述第一存储块连接的下端子；所述第一上端子为所述PoW芯片的全连接控制模块中与所述第一ALU连接的上端子。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定用于工作量证明运算的第一ALU，包括：

所述第一ALU数据读取的正确率大于预设的正确率阈值时，确定所述第一ALU用于工作量证明运算。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述逐步确定可用于工作量证明运算的第一存储块、第一下端子和第一上端子，包括对确定用于工作量证明运算的第一ALU以外的每一个第一ALU，通过以下检测确定可用于工作量证明运算的第一存储块和第一下端子：

获取每一个第二ALU读取的第二数据，所述第二数据根据各第二ALU相应的内存地址从所述第一存储块读取；

根据各所述第二ALU读取的第二数据，分别确定每一个所述第二ALU相应的数据读取的正确率；

根据确定的每一个所述第二ALU相应的数据读取的正确率，确定用于工作量证明运算的第一存储块和第一下端子；

其中，所述第二ALU包括：所述PoW芯片中除所述第一ALU以外的其他ALU。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述确定用于工作量证明运算的第一存储块和第一下端子，包括：

一个以上所述第二ALU数据读取的正确率大于正确率阈值时，确定所述第一存储块和第一下端子用于工作量证明运算。

5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述逐步确定可用于工作量证明运算的第一存储块、第一下端子和第一上端子，包括确定用于工作量证明运算的第一存储块和第一下端子之后，针对每一个所述第一ALU，所有所述第二ALU读取数据的正确率均小于或等于正确率阈值时，通过以下检测确定可用于工作量证明运算的第一上端子：

获取所述第一ALU读取的第三数据，所述第三数据根据预设的内存地址从所有第二存储块读取；

根据获取的所述第一ALU读取的第三数据，分别确定所述第一ALU从各第二存储块进行数据读取的正确率；

根据确定的所述第一ALU从各第二存储块进行数据读取的正确率，确定用于工作量证明运算的第一上端子；

其中，所述第二存储块包括：所述PoW芯片中除所述第一存储块以外的其他存储块。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述确定用于工作量证明运算的第一上端子，包括：

所述第一ALU从一个以上所述第二存储块进行数据读取的正确率大于所述正确率阈值时，确定第一上端子用于工作量证明运算。

7.根据权利要求5或6所述的方法，其特征在于，所述确定用于工作量证明运算的第一上端子之后，所述第一ALU从所有所述第二存储块进行数据读取的正确率均小于或等于所述正确率阈值时，所述方法还包括：

确定所述第一上端子和所述第一下端子之间的连接无效。

8.根据权利要求1~6任一项所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

对处于工作状态的PoW芯片的每一个ALU，分别统计ALU执行运算的运算成功率；

ALU的运算成功率小于预设的成功率阈值时，确定ALU不用于工作量证明运算。