[发明专利]一种基于SAW传感器的延时电路

说明书

本发明公开了一种基于SAW传感器的延时电路，包括：反相器组包括末端反相器组、中间反相器组和顶端反相器组；中间反相器组的数量为若干个；顶端反相器组的输入端连接信号发生器，顶端反相器组的输出端连接中间反相器组的输入端和多路选择器的数据输入端；中间反相器组的输出端连接多路选择器的数据输入端和末端反相器组的输入端；末端反相器组的输出端连接多路选择器的数据输入端；上位机连接多路选择器的数据选择端。本发明具有电路结构简单，占用逻辑资源少、复制性和灵敏度高的优点，同时对施加小信号的器件，具有易于测量、捕捉峰值，可以提高实验结果准确度。

技术领域

本发明属于集成电路领域，涉及一种基于SAW传感器的延时电路。

背景技术

以SAW器件为代表的高频器件在应用中，难以进行准确的相位峰值，峰谷捕捉，故此对SAW器件进行的各种施加小信号的幅度、特征值、相位计算，都处于并不能准确知道施加信号测量点为峰值还是峰谷的局面，这也将会造成对器件施加小信号后，难以测量，难以捕捉，难以分析，难以得到周期性结论，实验结果不准确的后果。

目前普遍采用的圆片上芯片测试是采用高频探针将信号引出接到相应的测试仪器上进行分析，实验中多采用的是KARLSUSS公司的高频探针台，GGB公司的高频探针和ANRISTU的网络分析仪。一般的SAW器件，在输入端加上输入信号，其输出部分的响应有直接的射频泄漏，体波响应信号，主声波响应信号，体波的三次行程信号，主声波的三次行程信号，除此之外还有在WAFRE上与其他叉指换能器端面的反射信号等。这些响应有些将在做成SAW器件的过程中通过各种工艺得以消除抑制，而这些响应的存在将严重的干扰芯片测试中对待测芯片性能的判断。

发明内容

本发明的目的在于解决现有技术中的问题，提供一种基于SAW传感器的延时电路，具有电路结构简单，占用逻辑资源少、复制性和灵敏度高的优点，同时对施加小信号的器件，具有易于测量、捕捉峰值的特点，可以提高实验结果准确度。

为达到上述目的，本发明采用以下技术方案予以实现：

一种基于SAW传感器的延时电路，包括：反相器组、多路选择器、上位机和信号发生器；

反相器组包括末端反相器组、中间反相器组和顶端反相器组；中间反相器组的数量为若干个；

顶端反相器组的输入端连接信号发生器，顶端反相器组的输出端连接中间反相器组的输入端和多路选择器的数据输入端；

中间反相器组的输出端连接多路选择器的数据输入端和末端反相器组的输入端；

末端反相器组的输出端连接多路选择器的数据输入端；

上位机连接多路选择器的数据选择端。

本发明的进一步改进在于：

末端反相器组、中间反相器组和顶端反相器组均包括n个反相器；n个反相器的输入端与输出端依次相连；其中，n不小于2。

反相器均为CMOS反向器。

多路选择器的数据选择端的个数与反相器组的个数有关；若反相器组的个数为m，多路选择器的数据端的个数为x，两者的关系如公式(1)所示：

2^x＝m (1)

多路选择器的数据输出端的个数与反相器组的个数相同，每个反相器组输出一个信号；多路选择器接收m个信号。

上位机连接多路选择器的数据选择端，具体为：上位机对多路选择器进行编程输出，控制多路选择器的输入通道，输出不同的信号。

每个反相器具有延时功能，每个反相器的延时时长为t，整个电路的延时时长为mnt。

多路选择器包括四选一多路选择器、八选一多路选择器和十六选一多路选择器。