[发明专利]一种用半导体发光的液体分析仪在审
申请号: | 202210305049.2 | 申请日: | 2022-03-25 |
公开(公告)号: | CN114705635A | 公开(公告)日: | 2022-07-05 |
发明(设计)人: | 范潇敏 | 申请(专利权)人: | 范潇敏 |
主分类号: | G01N21/25 | 分类号: | G01N21/25;G01N21/01 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 351100 福建省莆*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 半导体 发光 液体 分析 | ||
本发明公开了一种用半导体发光的液体分析仪,其结构包括:前围板架、光谱灯架槽座、轴扭压块、人机界面屏、仪器基座箱,本发明实现了运用前围板架与光谱灯架槽座相配合,通过半导体发光的滑轮支架与波纹灯架块配合灯珠流床排列组合形成围板块上翻罩住适配低位铺设流质托垫检测分析操作效果,保证液体的不确定性被光源微调全面捕捉避免曝光提升机架调度光感适配的精密度和流畅度。
技术领域
本发明是一种用半导体发光的液体分析仪,属于半导体领域。
背景技术
半导体的发光灯珠配合液体分析仪形成光谱结合的整体分析接触数据录入操作,提升设备仪器的精密度和实用操作度,保证液体的充分透析配合光谱扫描形成整编入库存储操作效果,保证采样分析的高效性和便捷性复合当下科技水平的推广和使用,目前技术公用的待优化的缺点有:
液体分析仪常用光谱进行测定,但发光源的曝光度容易影响聚光微调和整体的光谱适配度,导致后续的分析变色度造成紊乱现象,致使灯珠配合光谱排列造成整体半导体继电机架和分布变化的锁死现象,影响液体流质分析效率和精度。
发明内容
针对现有技术存在的不足,本发明目的是提供一种用半导体发光的液体分析仪,以解决液体分析仪常用光谱进行测定,但发光源的曝光度容易影响聚光微调和整体的光谱适配度,导致后续的分析变色度造成紊乱现象,致使灯珠配合光谱排列造成整体半导体继电机架和分布变化的锁死现象,影响液体流质分析效率和精度的问题。
为了实现上述目的,本发明是通过如下的技术方案来实现:一种用半导体发光的液体分析仪,其结构包括:前围板架、光谱灯架槽座、轴扭压块、人机界面屏、仪器基座箱,所述光谱灯架槽座紧贴于仪器基座箱的顶部上并且处于同一水平面上,所述轴扭压块设有两个并且分别安装于光谱灯架槽座的左右两侧,所述前围板架嵌套于光谱灯架槽座的前侧,所述前围板架与轴扭压块机械连接,所述人机界面屏插嵌在仪器基座箱的右上角并且相互垂直,所述光谱灯架槽座设有滑轮支架、波纹灯架块、入料槽箱座,所述滑轮支架与波纹灯架块机械连接并且相互垂直,所述滑轮支架与波纹灯架块均设有两个并且安装于入料槽箱座的内部,所述入料槽箱座紧贴于仪器基座箱的顶部上并且处于同一水平面上。
为优化上述技术方案,进一步采取的措施为:
作为本发明的进一步改进,所述滑轮支架由滑轮盘槽体、立杆体组成,所述滑轮盘槽体安装于立杆体的前侧,所述滑轮盘槽体与立杆体机械连接并且处于同一竖直面上。
作为本发明的进一步改进,所述滑轮盘槽体由弧推杆轮体、盘槽块组成,所述弧推杆轮体安装于盘槽块的内部,所述弧推杆轮体与盘槽块采用间隙配合。
作为本发明的进一步改进,所述波纹灯架块由灯珠压架块、弧扣弯管组成,所述灯珠压架块与弧扣弯管均设有两个并且分别呈回字形安装在一起,所述灯珠压架块与弧扣弯管扣合成一体并且处于同一水平面上。
作为本发明的进一步改进,所述灯珠压架块由双位灯珠管、波纹板槽块组成,所述双位灯珠管安装于波纹板槽块的内部,所述双位灯珠管与波纹板槽块插嵌在一起并且相互垂直。
作为本发明的进一步改进,所述前围板架由内轴支架杆、围板块组成,所述内轴支架杆设有两个并且分别安装于围板块的左右两侧,所述内轴支架杆与围板块扣合在一起并且处于同一竖直面上。
作为本发明的进一步改进,所述内轴支架杆由杆帽柱块、内轴短杆组成,所述内轴短杆安装于杆帽柱块的左侧,所述杆帽柱块与内轴短杆插嵌在一起并且相互垂直。
作为本发明的进一步改进,所述轴扭压块由轴压框块、罩帽壳体组成,所述轴压框块安装于罩帽壳体的内部,所述轴压框块与罩帽壳体扣合在一起并且处于同一竖直面上。
作为本发明的进一步改进,所述轴压框块由窄框体、轴压轮座组成,所述轴压轮座安装于窄框体的内部,所述窄框体与轴压轮座嵌套成一体并且处于同一竖直面上。
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