[发明专利]一种用于干涉仪系统的外校正方法

说明书

本发明公开了一种用于干涉仪系统的外校正方法，属于无线电测向领域，包括步骤：S1，确定全方位校正值，构成校正表；S2，将校正表下发给接收机，在粗测向的基础上先划定精测向的角度范围，然后对角度范围内各个子方向的校正值进行考察，以使校正操作后各通道相位差的标准差最小为最优准则；选取标准差最小值对应的校正值作为最优的校正值，以其对应的方向作为最终的测量结果。本发明可用来获得较高的环境、信号适应性和较好的测向精度。

技术领域

本发明涉及无线电测向领域，更为具体的，涉及一种用于干涉仪系统的外校正方法。

背景技术

干涉仪系统由于组成简单、测向精度高在测向领域广泛应用。其作为一种最简单的测向方式，也是其它测向方法的基础。

这种测向方式误差的主要来源有天线罩的非线性影响、天线安装误差及天线对不同方向来波的响应等因素。其中天线罩的影响可以通过完善天线罩设计、将其与天线一起校正等措施加以减小；天线安装误差也可以通过提高安装精度加以减小；而天线对不同方向来波的响应则是因为天线并非理想天线，其设计、加工过程会产生不一致性，导致对不同方向来波的响应产生不一致性。

当前电子装备往往忽略了该因素的影响，从而可能导致外场实验中测向精度的恶化。

增强校正方面的工作可以有效应对上述问题。当前干涉仪系统在校正阶段，往往首先用矢网扫描辐射源方位，然后旋转天线，使天线对准外辐射源方向，进行相位测量。以各通道正对辐射源方向的相位差值作为校正值来校正所有方向来波。当有不同于法线方向的来波时，天线的真实响应可能是不一样的，但是相位校正使用的却是法线方向的相位值，这样会带来相位偏差，从而引起测向精度的下降。

因此，须采用新的校正方法，以降低不同来波方向对相位差的不利影响。这样将提高干涉仪系统的环境、信号适应性，对提高测向精度有着重要意义。

发明内容

本发明的目的在于克服现有技术的不足，提供一种用于干涉仪系统的外校正方法，可用来获得较高的环境、信号适应性和较好的测向精度。

本发明的目的是通过以下方案实现的：

一种用于干涉仪系统的外校正方法，包括以下步骤：

S1，假设该干涉仪为均匀线阵干涉仪。以外部辐射源法线入射时各通道的相位差为校正值，构成校正表A；以所有其它方向入射时的各通道相位差为校正值，构成校正表Bi,其中i表示辐射源与干涉仪天线法线方向的每一个夹角。

S2，将校正表A下发给接收机，利用该校正表对不在法线方向的辐射源信号进行校正、粗测向。在粗测向的基础上划定精测向的角度范围，然后对角度范围内各个子方向的校正表Bi进行考察，以使校正操作后各相邻通道相位差的标准方差波动最小为最优准则，选取标准方差最小值对应的校正值Bi作为最优的校正表，以其对应的方向i作为最终的精测向结果。

进一步地，在步骤S1中，包括子步骤：

S11，利用矢网进行波束方向图扫描获得外部辐射源准确方位，将天线进行转动，使其法线方向正对辐射源方位；

S12，假设干涉仪系统的波束覆盖范围为±β°，在辐射源方位(此时为0°)±β°范围内转动转台，从-β°开始，以方位间隔Interval选定一个方位角vi，获得该方位角对应的各通道相位差：

ΔFivi＝{ΔFivi_Ph2-Ph1，ΔFivi_Ph3-Ph2，ΔFivi_Ph4-Ph3}

Ph1为第一阵元的相位；Ph2为第二阵元的相位；Ph3为第三阵元的相位；Ph4为第四阵元的相位；ΔFivi_表示当前工作频点Fi下，在入射方向vi时各相邻通道的相位差。