[发明专利]一种用于干涉仪系统的外校正方法

权利要求书

1.一种用于干涉仪系统的外校正方法，其特征在于，包括以下步骤：

S1，确定全方位校正值，构成校正表；

S2，将校正表下发给接收机，在粗测向的基础上先划定精测向的角度范围，然后对角度范围内各个子方向的校正值进行比较，以使校正操作后各通道相位差的标准差最小为最优准则；选取标准差最小值对应的校正值作为最优的校正值，以其对应的方向作为最终的测量结果；

在步骤S1中，包括子步骤：

S11，利用矢网进行波束方向图扫描获得外部辐射源准确方位，将天线进行转动，使其法线方向正对辐射源方位；

S12，假设干涉仪系统的波束覆盖范围为±β°，在辐射源方位±β°范围内转动转台，从-β°开始，以方位间隔Interval选定一个方位角vi，获得该方位角对应的各通道相位差：

ΔFivi＝{ΔFivi_Ph2-Ph1,ΔFivi_Ph3-Ph2,ΔFivi_Ph4-Ph3}

Ph1为第一阵元的相位；Ph2为第二阵元的相位；Ph3为第三阵元的相位；Ph4为第四阵元的相位；ΔFivi_表示当前工作频点Fi下，在入射方向vi时各相邻通道的相位差；

S13，则转台从-β°转到+β°，共获得n＝2β/Interval组相位差数据，得到当前工作频点下的n组校正数据{ΔFiv1，ΔFiv2，……,ΔFivi,……,ΔFivn}；

S14，将所有频点的校正数据构成整个校正表ΔFV＝{ΔFv1、ΔFv2、ΔFv3…},即Bi＝ΔFvi；

在步骤S2中，包括子步骤：

S21，外部辐射源信号进入干涉仪系统；

S22，用法线方向入射获得的校正表对外部辐射源信号进行校正，对校正结果进行计算，得粗测向结果D；

S23，得到粗测向结果D后，将其加减一个固定的角度误差范围值C，得到真实辐射源所在的方位范围D1～D2，其中D1＝D-C；D2＝D+C；

S24，在方位范围D1～D2内，对辐射源信号各相邻通道相位差按照方位间隔Interval，逐个应用当前频点下的一系列的校正数据ΔFivi对相位进行校正，得到一系列校正后的相位差数据集合N：

N＝{N1,N2,…,N(2*C/Interval)}

＝{N_D1,N_(D1+Interval),N_(D1+2*Interval),……,N_(D2)}；

其中N的每一个元素N_(D1+X*Interval)都包括各个相邻通道的相位差；

S25，选取集合N中标准差最小值所对应的那一个元素，根据其对应的方位值vi，确定真实的入射角度为vi。

2.根据权利要求1所述的用于干涉仪系统的外校正方法，其特征在于，在步骤S1之后，在构成校正表之后，对校正表进行压缩存储处理，再下发到接收机。

3.根据权利要求2所述的用于干涉仪系统的外校正方法，其特征在于，所述对校正表进行压缩存储处理，包括子步骤：

对校正表中的每一列数据进行FFT变换；

对变换结果进行有损处理：对其模值按幅度取大，其余系数置0；

将有损处理结果按最优的扫描编码方式进行编码，并标注编码方式；

将编码后数据下发给接收机；

接收机收到数据后解码、逆FFT变换，得到新的校正表，并将校正值应用到相位差形成过程中，实现校正功能。

4.根据权利要求2所述的用于干涉仪系统的外校正方法，其特征在于，所述对校正表进行压缩存储处理，包括子步骤：

对校正表中的每一列数据组成的序列进行高阶二项式拟合；

根据所需要的拟合结果与原校正表数据的符合程度，选取二项式拟合的最大阶数，即要保存的数据个数，进行系数保存，其余系数抛弃；

对该数据个数的系数进行下发到接收机；

接收机收到数据后按系数进行二项式拟合，产生新的校正表，并将校正值应用到相位差形成过程中，实现校正功能。

5.根据权利要求1所述的用于干涉仪系统的外校正方法，其特征在于，在步骤S12中，所述方位间隔Interval为设定的干涉仪最小方位分辨率。

6.根据权利要求1所述的用于干涉仪系统的外校正方法，其特征在于，在步骤S24中，所述当前频点下的一系列的校正数据对应以Interval为方位间隔的校正数据。