[发明专利]一种石墨烯熔丝器件及其制备方法在审
申请号: | 202210245614.0 | 申请日: | 2022-03-14 |
公开(公告)号: | CN114582876A | 公开(公告)日: | 2022-06-03 |
发明(设计)人: | 李雪娉;邱晨光;彭练矛 | 申请(专利权)人: | 湘潭大学;北京元芯碳基集成电路研究院 |
主分类号: | H01L27/112 | 分类号: | H01L27/112;H01L21/8246 |
代理公司: | 北京惟专知识产权代理事务所(普通合伙) 16074 | 代理人: | 赵星 |
地址: | 4111*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 石墨 烯熔丝 器件 及其 制备 方法 | ||
1.一种石墨烯熔丝器件,其特征在于,具有一衬底(1),在所述衬底(1)上具有石墨烯薄膜(2),在所述石墨烯薄膜(2)两端分别具有源极(3)和漏极(4),所述源极(3)和所述漏极(4)之间形成一栅窗口,在所述栅窗口中具有一金属栅(5),所述金属栅与所述石墨烯之间具有一栅氧化层(6)。
2.如权利要求1所述的石墨烯熔丝器件,其特征在于,所述石墨烯薄膜(2)为石墨烯纳米带。
3.如权利要求1所述的石墨烯熔丝器件,其特征在于,所述金属栅(5)为金属Al栅,所述栅氧化层为Al2O3。
4.如权利要求1所述的石墨烯熔丝器件,其特征在于,所述源极(3)或所述漏极(4)为Ti和Au组成的双层结构。
5.如权利要求1所述的石墨烯熔丝器件,其特征在于,所述金属栅(5)与所述石墨烯薄膜(2)的延展方向垂直。
6.一种如权利要求1-5中任一石墨烯熔丝器件的制备方法,其特征在于,包括如下步骤:
提供一衬底(1),并在所述衬底(1)上转移石墨烯薄膜(2);
在对所述石墨烯薄膜(2)两端沉积源极(3)和漏极(4);
在所述源极(3)和所述漏极(4)之间沉积金属栅(5);
通过退火氧化,在所述石墨烯薄膜(2)与金属栅(5)的界面处形成栅氧化层(6)。
7.如权利要求6所述的石墨烯熔丝器件的制备方法,其特征在于,通过机械剥离或CVD原位生长在所示衬底(1)上形成石墨烯薄膜(2)。
8.如权利要求6所述的石墨烯熔丝器件的制备方法,其特征在于,通过电子束曝光和电子束蒸镀形成所述源极(3)和漏极(4)。
9.如权利要求6所述的石墨烯熔丝器件的制备方法,其特征在于,在所述源极(3)和所述漏极(4)之间沉积金属Al形成所述金属栅(5)。
10.如权利要求6所述的石墨烯熔丝器件的制备方法,其特征在于,通过在120℃-180℃温度下退火30-90min在所述石墨烯薄膜(2)与所述金属栅(5)的界面处形成所述栅氧化层(6)。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于湘潭大学;北京元芯碳基集成电路研究院,未经湘潭大学;北京元芯碳基集成电路研究院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的