[发明专利]一种外延隔离LED芯片及其制备方法在审

专利信息
申请号: 202210169458.4 申请日: 2022-02-23
公开(公告)号: CN114628551A 公开(公告)日: 2022-06-14
发明(设计)人: 田杰;简弘安;张星星;胡加辉;金从龙 申请(专利权)人: 江西兆驰半导体有限公司
主分类号: H01L33/00 分类号: H01L33/00;H01L33/10
代理公司: 南昌旭瑞知识产权代理事务所(普通合伙) 36150 代理人: 彭琰
地址: 330000 江西省南昌市南*** 国省代码: 江西;36
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摘要:
搜索关键词: 一种 外延 隔离 led 芯片 及其 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种外延隔离LED芯片制备方法,其特征在于,所述方法包括:

提供衬底,在所述衬底上形成第一光刻图形,刻蚀出与所述第一光刻图形相应的图形,以使在所述衬底上形成凹槽;

分别在所述凹槽的底部、侧壁及顶部沉积抑制外延层生长的化合物;

通过刻蚀分别去除在所述凹槽的顶部和底部沉积的所述化合物;

在所述衬底上形成第二光刻图形,刻蚀出与所述第二光刻图形相应的图案,并依次在所述凹槽的底部生长N型半导体层、发光层和P型半导体层。

2.根据权利要求1所述的外延隔离LED芯片制备方法,其特征在于,所述凹槽的深度为5um-15um。

3.根据权利要求1所述的外延隔离LED芯片制备方法,其特征在于,所述化合物为氧化物或氮化物。

4.根据权利要求1所述的外延隔离LED芯片制备方法,其特征在于,所述第二光刻图形为圆锥。

5.根据权利要求1所述的外延隔离LED芯片制备方法,其特征在于,所述衬底为蓝宝石衬底。

6.根据权利要求1所述的外延隔离LED芯片制备方法,其特征在于,在分别在所述凹槽的底部、侧壁及顶部沉积化合物的步骤中:

将第一气体反应剂通入腔体,控制通入时间为0.1s-60s;

停止通入第一气体反应剂,通入吹扫气体将腔体内残留的所述第一气体反应剂去除,并控制吹入时间为0.1s-60s,所述吹扫气体包括惰性气体;

将第二气体反应剂通入腔体,控制通入时间为0.1s-60s;

停止通入第二气体反应剂,通入所述吹扫气体将腔体内残留的所述第二气体反应剂去除,并控制吹入时间为0.1s-60s;

循环重复上述步骤,直至沉积化合物的厚度达到预设厚度。

7.根据权利要求1所述的外延隔离LED芯片制备方法,其特征在于,所述化合物的厚度为10nm-1000nm。

8.一种外延隔离LED芯片,其特征在于,包括衬底、及从下至上依次设于衬底上的N型半导体层、发光层以及P型半导体层,所述衬底设有凹槽,所述凹槽内侧壁上设有抑制外延层生长的化合物,所述N型半导体层、所述发光层、所述P型半导体层分别位于所述凹槽内。

9.根据权利要求8所述的外延隔离LED芯片,其特征在于,所述凹槽的深度为5um-15um。

10.根据权利要求8所述的外延隔离LED芯片,其特征在于,所述化合物为氧化物或氮化物。

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