[发明专利]一种光电跟踪仪跟踪精度测试装置与方法在审

专利信息
申请号: 202210117002.3 申请日: 2022-02-08
公开(公告)号: CN114593725A 公开(公告)日: 2022-06-07
发明(设计)人: 沈荣仁;刘长明;庄新港;史学舜;刘红波;张鹏举 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第四十一研究所
主分类号: G01C21/00 分类号: G01C21/00
代理公司: 青岛智地领创专利代理有限公司 37252 代理人: 种艳丽
地址: 266555 山*** 国省代码: 山东;37
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摘要:
搜索关键词: 一种 光电 跟踪 精度 测试 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种光电跟踪仪跟踪精度测试装置,其特征在于:包括光电跟踪仪、平行光管、空间光调制器、合束镜、光束整形系统、黑体辐射源、白光光源和工控机;

光束整形系统,被配置为用于生成均匀准直光束;包括白光光源光束整形系统和黑体辐射源光束整形系统;

白光光源、黑体辐射源分别经过各自的光束整形系统后变为均匀准直光,然后通过合束镜共轴入射至空间光调制器;

空间光调制器,被配置为用于生成静态或动态的模拟目标,为跟踪精度测试提供追踪对象;

光电跟踪仪,被配置为用于跟踪模拟目标,同时通过数据端输出目标角度实时变化;

平行光管,被配置为用于将空间光调制器的反射光调整为平行光;

工控机,被配置为用于通过比较同一目标相同时刻的数据得出跟踪设备的跟踪角度。

2.根据权利要求1所述的光电跟踪仪跟踪精度测试装置,其特征在于:白光光源和黑体辐射源的入射方向的两束光线通过合束镜后光轴保持一致。

3.根据权利要求1所述的光电跟踪仪跟踪精度测试装置,其特征在于:对合束镜进行波长镀膜。

4.一种光电跟踪仪跟踪精度测试方法,其特征在于:采用如权利要求1所述的光电跟踪仪跟踪精度测试装置,具体包括如下步骤:

步骤1:通过工控机打开黑体辐射源光源和白光光源;

步骤2:调整光束整形系统,得到两个均匀准直光束;

步骤3:调整合束镜,使得两束光透射或反射合为一束空间光,照射在空间光调制器的表面;

步骤4:通过工控机写入一系列图像数据,根据投影帧数和每帧移动像素数,得到空间光调制器投影视频中跟踪目标的移动速度;

步骤5:调整平行光管,将空间光调制器的反射光调整为平行光,实现模拟无穷远处的跟踪目标;

步骤6:工控机接收光电跟踪仪的实时观测数据;

因为测试装置中各器件存在响应时间,工控机同一时刻接收的实时数据不是对应的同一图像;首先从空间光调制器获得触发信号,工控机取得每帧图像投影的准确时间;其次测量光电跟踪仪的响应时间,即从接收光信号到发出电信号的延迟时间;

步骤7:与输出图像数据进行对比;

输出图像只有每帧投影时间和像素位置,根据平行光管的光学参数和空间光调制器的相对位置进行计算,投影图像中跟踪目标的移动速度和加速度参数;

步骤8:通过工控机设置跟踪目标为不同的移动速度和移动轨迹,重复步骤1-7。

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