[发明专利]放大电路、控制方法和存储器在审
申请号: | 202210101568.7 | 申请日: | 2022-01-27 |
公开(公告)号: | CN116564371A | 公开(公告)日: | 2023-08-08 |
发明(设计)人: | 尚为兵;李红文 | 申请(专利权)人: | 长鑫存储技术有限公司 |
主分类号: | G11C7/10 | 分类号: | G11C7/10;G11C7/12 |
代理公司: | 上海晨皓知识产权代理事务所(普通合伙) 31260 | 代理人: | 成丽杰 |
地址: | 230601 安徽省合肥市*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 放大 电路 控制 方法 存储器 | ||
1.一种放大电路,与位线和互补位线耦合,其特征在于,包括:
感测放大电路,包括读出节点、互补读出节点、第一节点和第二节点,在感测放大阶段和偏移消除阶段,所述第一节点用于接收高电平,所述第二节点用于接收低电平;
隔离电路,与所述读出节点、所述互补读出节点、所述位线和所述互补位线耦合;所述隔离电路被配置为,在感测放大阶段,将所述读出节点耦合至所述位线,并将所述互补读出节点耦合至所述互补位线;
偏移消除电路,与所述位线、所述互补位线、所述读出节点、所述互补读出节点耦合;所述偏移消除电路被配置为,在偏移消除阶段,将所述位线耦合至所述互补读出节点,并将所述互补位线耦合至所述读出节点;
处理电路,耦合所述偏移消除电路,被配置为,获取存储器温度,并基于所述存储器温度,调整所述偏移消除阶段的持续时间。
2.根据权利要求1所述的放大电路,其特征在于,所述处理电路,包括:
温度检测电路,被配置为,获取所述存储器温度;
配置电路,耦合所述温度检测电路,被配置为,基于所述存储器温度获取对应于所述存储器温度的偏移消除时间;
控制电路,耦合所述配置电路和所述偏移消除电路,被配置为,在所述偏移消除阶段,提供所述偏移消除时间的偏移消除信号。
3.根据权利要求2所述的放大电路,其特征在于,包括:
若所述存储器温度升高,所述处理电路被配置为,基于所述存储器温度,缩短所述偏移消除阶段的持续时间;
若所述存储器温度降低,所述处理电路被配置为,基于所述存储器温度,延长所述偏移消除阶段的持续时间。
4.根据权利要求2所述的放大电路,其特征在于,包括:
所述偏移消除电路,包括:
第一偏移消除晶体管,源极或漏极中的其中一端子耦合所述位线,另一端子耦合所述互补读出节点,栅极用于接收所述偏移消除信号;
所述第一偏移消除晶体管被配置为,在所述偏移消除阶段,基于所述偏移消除信号导通,将所述互补读出节点耦合至所述位线;
第二偏移消除晶体管,源极或漏极中的其中一端子耦合所述互补位线,另一端子耦合所述读出节点,栅极用于接收所述偏移消除信号;
所述第二偏移消除晶体管被配置为,在所述偏移消除阶段,基于所述偏移消除信号导通,将所述读出节点耦合至所述互补位线。
5.根据权利要求2所述的放大电路,其特征在于,所述配置电路,包括:
存储子电路,被配置为,存储存储器温度与偏移消除时间的逻辑关系;
分析子电路,耦合所述温度检测电路和所述存储子电路;所述分析子电路被配置为,基于所述逻辑关系,获取所述存储器温度对应的所述偏移消除时间。
6.根据权利要求1所述的放大电路,其特征在于,还包括:
第一电源提供电路,与所述第一节点耦合,包括电源节点;所述第一电源提供电路被配置为,在所述偏移消除阶段和所述感测放大阶段,将所述电源节点耦合至所述第一节点;
第二电源提供电路,与所述第二节点耦合,包括地线节点;所述第一电源提供电路被配置为,在所述偏移消除阶段和所述感测放大阶段,将所述地线节点耦合至所述第二节点。
7.根据权利要求6所述的放大电路,其特征在于,包括:
所述第一电源提供电路包括:第一控制晶体管;
第一控制晶体管,源极或漏极的其中一端子耦合所述电源节点,另一端子耦合所述第一节点,栅极用于接收控制信号;
所述第二电源提供电路包括:第二控制晶体管;
第二控制晶体管,源极或漏极的其中一端子耦合所述第二节点,另一端子耦合所述地线节点,栅极用于接收所述控制信号;
所述控制信号用于,在所述偏移消除阶段和所述感测放大阶段,导通所述第一控制晶体管和所述第二控制晶体管。
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