[发明专利]一种基于极性加固技术的SRAM存储电路在审
申请号: | 202210081246.0 | 申请日: | 2022-01-24 |
公开(公告)号: | CN114429774A | 公开(公告)日: | 2022-05-03 |
发明(设计)人: | 彭春雨;强斌;卢文娟;赵强;郝礼才;蔺智挺;吴秀龙 | 申请(专利权)人: | 安徽大学;合肥市微电子研究院有限公司;合肥海图微电子有限公司 |
主分类号: | G11C11/412 | 分类号: | G11C11/412;G11C11/419 |
代理公司: | 北京凯特来知识产权代理有限公司 11260 | 代理人: | 郑立明;陈亮 |
地址: | 230601 安徽*** | 国省代码: | 安徽;34 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 极性 加固 技术 sram 存储 电路 | ||
1.一种基于极性加固技术的SRAM存储电路,其特征在于,所述电路包括四个PMOS晶体管和十个NMOS晶体管,四个PMOS晶体管依次记为P1~P4,十个NMOS晶体管依次记为N1~N10,其中:
PMOS晶体管P3的栅极与PMOS晶体管P4的漏极相连接,同时PMOS晶体管P4的栅极与PMOS晶体管P3的漏极相连接,即P3、P4形成MOS管的交叉耦合结构;
NMOS晶体管N5和N6交叉耦合,主存储节点Q和QN分别连接NMOS晶体管的N2、N1的栅极;
PMOS晶体管P3、P4的漏极连接到主存储节点Q、QN,故PMOS晶体管P1、P3、P2、P4起到主存储节点Q、QN上拉晶体管的作用;NMOS晶体管N3、N4的漏极与主存储节点Q、QN相连接,故NMOS晶体管N3、N4起到主存储节点Q、QN下拉晶体管的作用;
NMOS晶体管N1、N2的源极与冗余存储节点S0、S1相连接,故NMOS晶体管N1、N2起到冗余存储节点S0、S1上拉晶体管的作用;NMOS晶体管N5、N6的漏极与冗余存储节点S0、S1相连接,故NMOS晶体管N5、N6起到冗余存储节点S0、S1下拉晶体管的作用;
主存储节点Q和QN通过NMOS晶体管N7与N8分别与位线BL和BLB相连,冗余存储节点S0与S1通过NMOS晶体管N9与N10分别与位线BL和BLB相连,其中:
NMOS晶体管N7、N8、N9、N10由字线WL控制;
位线BL与NMOS晶体管N7与N9的源极电连接,位线BLB与NMOS晶体管N8与N10的源极电连接;
字线WL与NMOS晶体管N7、N8、N9、N10的栅极电连接;
NMOS晶体管N7的漏极与NMOS晶体管N3的漏极电连接,NMOS晶体管N8的漏极与NMOS晶体管N4的漏极电连接;NMOS晶体管N9的漏极与NMOS晶体管N6的漏极电连接,NMOS晶体管N10的漏极与NMOS晶体管N5的漏极电连接;
电源VDD与PMOS晶体管P1、P2的源极,以及NMOS晶体管N1、N2的漏极电连接;
NMOS晶体管N3、N4、N5、N6的源极均接地。
2.根据权利要求1所述基于极性加固技术的SRAM存储电路,其特征在于,各晶体管的具体连接关系为:
PMOS晶体管P1的漏极与PMOS晶体管P3的源极电连接,并且PMOS晶体管P1的栅极与NMOS晶体管N1的源极、NMOS晶体管N3的栅极、NMOS晶体管N5的漏极、NMOS晶体管N6的栅极电连接;
PMOS晶体管P2的漏极与PMOS晶体管P4的源极电连接,并且PMOS晶体管P2的栅极与NMOS晶体管N2的源极、NMOS晶体管N4的栅极、NMOS晶体管N5的栅极、NMOS晶体管N6的漏极电连接;
PMOS晶体管P3的漏极与NMOS晶体管N3的漏极、PMOS晶体管P4的栅极、NMOS晶体管N2的栅极电连接,并且PMOS晶体管P3的栅极与NMOS晶体管N1的栅极、NMOS晶体管N4的漏极电连接;
PMOS晶体管P4的漏极与NMOS晶体管N4的漏极、PMOS晶体管P3的栅极、NMOS晶体管N1的栅极电连接,并且PMOS晶体管P4的栅极与NMOS晶体管N2的栅极、NMOS晶体管N3的漏极电连接;
NMOS晶体管N1的源极与PMOS晶体管P1的栅极、NMOS晶体管N3的栅极、NMOS晶体管N5的漏极、NMOS晶体管N6的栅极电连接,并且NMOS晶体管N1的栅极与PMOS晶体管P3的栅极、NMOS晶体管N4的漏极电连接;
NMOS晶体管N2的源极与PMOS晶体管P2的栅极、NMOS晶体管N4的栅极、NMOS晶体管N5的栅极、NMOS晶体管N6的漏极电连接,并且NMOS晶体管N2的栅极与PMOS晶体管P3的栅极、NMOS晶体管N4的漏极电连接;
NMOS晶体管N3的漏极与PMOS晶体管P4的栅极、NMOS晶体管N2的栅极电连接,并且NMOS晶体管N3的栅极与PMOS晶体管P1的栅极、NMOS晶体管N1的源极、NMOS晶体管N5的漏极、NMOS晶体管N6的栅极电连接;
NMOS晶体管N4的漏极与PMOS晶体管P3的栅极、NMOS晶体管N1的栅极电连接,并且NMOS晶体管N4的栅极与PMOS晶体管P2的栅极、NMOS晶体管N2的源极、NMOS晶体管N5的栅极、NMOS晶体管N6的漏极电连接;
NMOS晶体管N5的漏极与NMOS晶体管N1的源极、PMOS晶体管P1的栅极、NMOS晶体管N3的栅极、NMOS晶体管N6的栅极电连接,并且NMOS晶体管N5的栅极与PMOS晶体管P2的栅极、NMOS晶体管N2的源极、NMOS晶体管N4的栅极、NMOS晶体管N6的漏极电连接;
NMOS晶体管N6的漏极与NMOS晶体管N2的源极、PMOS晶体管P2的栅极、NMOS晶体管N4的栅极、NMOS晶体管N5的栅极电连接,并且NMOS晶体管N6的栅极与PMOS晶体管P1的栅极、NMOS晶体管N1的源极、NMOS晶体管N4的栅极、NMOS晶体管N5的漏极电连接。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于安徽大学;合肥市微电子研究院有限公司;合肥海图微电子有限公司,未经安徽大学;合肥市微电子研究院有限公司;合肥海图微电子有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202210081246.0/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。