[发明专利]一种半导体测试方法、系统及存储介质

说明书

本申请公开了一种半导体测试方法、系统及存储介质，所述半导体测试方法包括：创建测试数据表；所述测试数据表包括第一子表和第二子表；根据预设测试流程，对待测芯片组进行测试；所述预设测试流程包括将测试数据写入所述待测芯片组和读取所述待测芯片组中的测试数据；将写入所述待测芯片组的所述测试数据存储至所述第一子表中；基于所述测试数据生成第一校验信息，并将所述第一校验信息存储至所述第二子表中；基于读取所述待测芯片组中的测试数据得到的读出数据生成第二校验信息；基于所述第一校验信息和所述第二校验信息对所述待测芯片组进行校验。

技术领域

本申请涉及半导体技术领域，尤其涉及一种半导体测试方法、系统及存储介质。

背景技术

目前，存储芯片测试主要是在各种测试条件下，验证数据读写，数据保持的正确性，以及极端条件下芯片的运行时长来模拟芯片的未来使用寿命。对于一些复杂的测试，如读写，擦除，随机地址测试等，主机无法快速区分芯片读取的数据是否正确，从而影响了测试效率和测试的可靠性。

发明内容

本申请实施例期望提供一种半导体测试方法、系统及存储介质。

本申请的技术方案是这样实现的：

本申请实施例第一方面提供一种半导体测试方法，所述方法包括：

创建测试数据表；所述测试数据表包括第一子表和第二子表；

根据预设测试流程，对待测芯片组进行测试；所述预设测试流程包括将测试数据写入所述待测芯片组和读取所述待测芯片组中的测试数据；

将写入所述待测芯片组的所述测试数据存储至所述第一子表中；

基于所述测试数据生成第一校验信息，并将所述第一校验信息存储至所述第二子表中；

基于读取所述待测芯片组中的测试数据得到的读出数据生成第二校验信息；

基于所述第一校验信息和所述第二校验信息对所述待测芯片组进行校验。

可选地，所述根据预设测试流程，对待测芯片组进行测试之前，所述方法还包括：

根据所述预设测试流程中包括的测试指令的数量设置多个测试阶段；

每个所述测试阶段包括多个测试子阶段。

可选地，所述方法还包括：

针对每个所述测试阶段，基于所述待测芯片组中各待测芯片在首个测试子阶段的测试时间差，确定各待测芯片的预设延迟时间；

基于所述预设延迟时间，确定每个所述测试阶段中的各个所述测试子阶段中的测试指令的数量。

可选地，所述创建测试数据表，包括：

为所述待测芯片组中的每个待测芯片创建一个测试数据表；每个所述测试数据表均包括第一子表和第二子表。

可选地，所述将写入所述待测芯片组的所述测试数据存储至所述第一子表中，包括：

针对每个测试阶段，将写入每个待测芯片的测试数据存储至该待测芯片对应的所述测试数据表的第一子表中。

可选地，所述基于所述测试数据生成第一校验信息，并将所述第一校验信息存储至所述第二子表中，包括：

针对每个待测芯片，基于写入所述待测芯片的测试数据生成第一校验信息，并将所述第一校验信息存储至所述待测芯片对应的所述测试数据表的第二子表中。可选地，所述创建测试数据表，包括：

为所述待测芯片组创建一个测试数据表；所述测试数据表中的第一子表用于存储所述待测芯片组中所有待测芯片写入的测试数据；所述测试数据表中的第二子表用于缓存所述待测芯片组中所有待测芯片的第一校验信息。