[发明专利]基板处理设备在审
申请号: | 202180071599.6 | 申请日: | 2021-10-05 |
公开(公告)号: | CN116368603A | 公开(公告)日: | 2023-06-30 |
发明(设计)人: | 史胜晔;李智勋;张大洙;全富一 | 申请(专利权)人: | 周星工程股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67 |
代理公司: | 北京鸿元知识产权代理有限公司 11327 | 代理人: | 王伟;李琳 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 处理 设备 | ||
1.一种基板处理设备,包括:
处理腔体,提供用于处理基板的反应空间;
基板支撑单元,支撑所述基板;
第一电极,安装在所述处理腔体中,所述第一电极与所述基板相对且包括朝所述基板突出的多个突出电极;以及
第二电极,设置在所述第一电极之下,所述第二电极包括多个开口,所述多个突出电极插设于所述多个开口中,
其中,所述多个突出电极中的设置在第一区域中的第一突出电极和设置在位于所述第一区域之外的第二区域中的第二突出电极突出不同的长度。
2.如权利要求1所述的基板处理设备,其中,所述第一突出电极朝所述基板突出的长度长于所述第二突出电极朝所述基板突出的长度。
3.如权利要求1所述的基板处理设备,其中,所述第二突出电极朝所述基板突出的长度长于所述第一突出电极朝所述基板突出的长度。
4.如权利要求1所述的基板处理设备,其中:
所述第一突出电极包括喷射第一气体的第一喷射孔,
所述第二突出电极包括喷射第二气体的第二喷射孔,并且
所述第一喷射孔的面积与所述第二喷射孔的面积不同。
5.如权利要求1所述的基板处理设备,其中,插设于所述开口中的所述第一突出电极和所述第二突出电极中的一者与所述第二电极的底面位于同一平面中。
6.如权利要求1所述的基板处理设备,其中,所述第二电极的位于所述第一区域中的一部分和所述第二电极的位于所述第二区域中的另一部分朝所述基板突出不同的长度。
7.一种基板处理设备,包括:
处理腔体,提供用于处理基板的反应空间;
基板支撑单元,支撑所述基板;
第一电极,安装在所述处理腔体中,所述第一电极与所述基板相对且包括朝所述基板突出的多个突出电极;以及
第二电极,设置在所述第一电极之下,所述第二电极包括多个开口,所述多个突出电极插设于所述多个开孔中,
其中,所述第二电极的位于第一区域中的一部分和所述第二电极的位于所述第一区域之外的第二区域中的另一部分以不同的长度与所述基板支撑单元间隔开。
8.如权利要求7所述的基板处理设备,其中,所述第二电极的位于所述第一区域的所述一部分与所述基板支撑单元间隔开的距离长于所述第二电极的位于所述第二区域的所述另一部分与所述基板支撑单元间隔开的距离。
9.如权利要求7所述的基板处理设备,其中,所述第二电极的位于所述第二区域的所述另一部分与所述基板支撑单元间隔开的距离长于所述第二电极的位于所述第一区域的部分与所述基板支撑单元间隔开的距离。
10.如权利要求7所述的基板处理设备,其中:
所述多个突出电极中的设置在所述第一区域中的第一突出电极包括喷射第一气体的第一喷射孔,
所述多个突出电极中的设置在所述第二区域中的第二突出电极包括喷射第二气体的第二喷射孔,并且
所述第一喷射孔的面积与所述第二喷射孔的面积不同。
11.如权利要求4或10所述的基板处理设备,其中,所述第一喷射孔的面积被形成为大于所述第二喷射孔的面积。
12.如权利要求4或10所述的基板处理设备,其中,所述第二喷射孔的面积被形成为大于所述第一喷射孔的面积。
13.如权利要求4或10所述的基板处理设备,其中,所述第一喷射孔的面积和所述第二喷射孔的面积为水平横截面积。
14.如权利要求10所述的基板处理设备,其中,插设于所述开口中的所述第一突出电极和所述第二突出电极中的至少一者与所述第二电极的底面位于同一平面中。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造