[实用新型]功率半导体器件有效

专利信息
申请号: 202122837813.4 申请日: 2021-11-18
公开(公告)号: CN216250740U 公开(公告)日: 2022-04-08
发明(设计)人: 高秀秀;柯攀;戴小平 申请(专利权)人: 湖南国芯半导体科技有限公司
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L29/417;H01L21/336
代理公司: 湖南兆弘专利事务所(普通合伙) 43008 代理人: 廖元宝
地址: 412001 湖南省株洲市石峰*** 国省代码: 湖南;43
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摘要:
搜索关键词: 功率 半导体器件
【权利要求书】:

1.一种功率半导体器件,其特征在于,包括N型衬底(1),所述N型衬底(1)上设有N型外延层下部分(2),所述N型外延层下部分(2)上部形成P基区下部分(3),所述N型外延层下部分(2)上面设有N型外延层上部分(4),所述N型外延层上部分(4)上部设有两个P基区上部分(5),其中一个所述P基区上部分(5)中设有N+源区(6)和P+源区(7),所述N+源区(6)两侧的P基区上部分(5)形成沟道(14),另一个所述P基区上部分(5)设有绝缘介质层(8),所述绝缘介质层(8)上设有多晶硅(10),所述多晶硅(10)上设有栅极金属(13),所述N+源区(6)和P+源区(7)上设有源极金属(11),所述N型衬底(1)的背面设有漏极金属(12);将另一个所述P基区上部分(5)与N型外延层上部分(4)之间的边界线两端延伸至器件的表面和背面,以作为分界线,包含述N+源区(6)、P+源区(7)、沟道(14)和漏极金属(12)的区域作为有源区(100),另一侧的区域则作为非有源区或栅极焊盘(101),其中非有源区或栅极焊盘(101)靠近有源区(100)的边缘处不存在源极金属(11)。

2.根据权利要求1所述的功率半导体器件,其特征在于,所述P基区上部分(5)和P+源区(7)的结深相同,均为0.3~0.7um。

3.根据权利要求1所述的功率半导体器件,其特征在于,所述P基区下部分(3)的结深为0.3~0.6um。

4.根据权利要求1所述的功率半导体器件,其特征在于,所述N型衬底(1)的电阻率为0.01~0.03Ω.cm,厚度为200~400μm。

5.根据权利要求1或2所述的功率半导体器件,其特征在于,所述N+源区(6)的结深为0.2~0.5um。

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