[实用新型]一种半导体双面同时检测的机构有效

专利信息
申请号: 202122156596.2 申请日: 2021-09-07
公开(公告)号: CN215727740U 公开(公告)日: 2022-02-01
发明(设计)人: 忻超 申请(专利权)人: 宁波轻蜓视觉科技有限公司
主分类号: G01N21/84 分类号: G01N21/84;G01N21/01
代理公司: 无锡市汇诚永信专利代理事务所(普通合伙) 32260 代理人: 王旭超
地址: 315100 浙江省宁波市*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 一种 半导体 双面 同时 检测 机构
【说明书】:

实用新型公开一种半导体双面同时检测的机构,包括两根平行的第一基板移动轨道和第二基板移动轨道,第一基板移动轨道和第二基板移动轨道的滑块上形成半导体放置位,还包括分设于半导体放置为上方、下方的上检测机构和下检测机构,第一基板移动轨道和第二基板移动轨道之间形成检测位;在使用的时候,将半导体产品搁置在第一基板移动轨道和第二基板移动轨道的滑块上,即第一基板移动轨道的滑块上放置半导体产品的第一端,第二基板移动轨道的滑块上放置半导体产品的第二端,当第一、第二基板移动滑轨上的滑块移动的时候,依次或同时经过上检测机构、下检测机构,上、下检测相机进行对于半导体产品的检测,一次性完成双面检测。

技术领域

本实用新型为检测领域,具体涉及一种半导体双面同时检测的机构。

背景技术

传统的半导体产品在检测的时候需要正反两面进行拍照检测,但是在检测的时候需要将半导体产品的第一面检测完成后,进行翻面,随后再进行另一侧的检测,这样一来检测的时间和工序增加,因此获得一种半导体双面同时检测的机构十分重要。

实用新型内容

为解决上述至少一种技术问题,本实用新型提供一种半导体双面同时检测的机构,包括两根平行的第一基板移动轨道和第二基板移动轨道,所述第一基板移动轨道和第二基板移动轨道的滑块上形成半导体放置位,还包括分设于半导体放置为上方、下方的上检测机构和下检测机构,所述第一基板移动轨道和第二基板移动轨道之间形成检测位;

所述上检测机构包括两根平行的第一上移动轨道和第二上移动轨道,所述第一上移动轨道和第二上移动轨道的滑块之间通过第一连接板连接,还包括上检测相机,所述第一连接板上固定有第一安装环和位于第一安装环上方的第二安装环,所述第一安装环的直径小于第二安装环的直径,所述第一安装环和第二安装环一体成型,所述上检测相机的外壳上开设有与第一安装环和第二安装环配合的第一安装凹槽;

所述下检测机构包括两根平行的第一下移动轨道和第二下移动轨道,所述第一下移动轨道和第二下移动轨道的滑块之间通过第二连接板连接,还包括下检测相机,所述第二连接板下固定有第三安装环和位于第三安装环上方的第四安装环,所述第三安装环的直径小于第四安装环的直径,所述第三安装环和第四安装环一体成型,所述下检测相机的外壳下开设有与第三安装环和第四安装环配合的第二安装凹槽。

还包括工作台面,所述工作台面上固定有立柱,所述立柱上固定有立杆,立杆上固定有支撑块,所述第一基板移动轨道和第二基板移动轨道分别固定在立杆、支撑块上。

还包括第一立板和第二立板,所述上检测机构固定在第一立板上,下检测机构固定在第二立板上。其中第一立板和第二立板通过其他支撑结构固定在工作台面上,以使上检测相机位于检测位的正上方,下检测相机位于检测位的正下方。

上检测相机和下检测相机为与同一竖直线上或位于不同的竖直线上。上检测相机和下检测相机为CCD相机。

与现有技术相比,本实用新型的优点在于:本实用新型结构简单,在使用的时候,将半导体产品搁置在第一基板移动轨道和第二基板移动轨道的滑块上,即第一基板移动轨道的滑块上放置半导体产品的第一端,第二基板移动轨道的滑块上放置半导体产品的第二端,当第一、第二基板移动滑轨上的滑块移动的时候,依次或同时经过上检测机构、下检测机构,上、下检测相机进行对于半导体产品的检测,一次性完成双面检测。

附图说明

图1为本实用新型立体图;

图2为本实用新型上检测机构安装环与上检测相机装配截面示意图;

图3为本实用新型下检测机构安装环与下检测相机装配截面示意图;

附图标记:1-第一基板移动轨道;2-第二基板移动轨道;3-半导体放置位;4-检测位;5-第一上移动轨道;6-第二上移动轨道;7-第一连接板;8-上检测相机;9-第一安装环;10-第二安装环;11-第一安装凹槽;

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