[实用新型]基于预磁化和扫频脉冲涡流的工件缺陷检测装置有效
| 申请号: | 202121478047.0 | 申请日: | 2021-06-30 |
| 公开(公告)号: | CN215812570U | 公开(公告)日: | 2022-02-11 |
| 发明(设计)人: | 郭静波;胡铁华;谭博;王艺钊;史启航;董绍华 | 申请(专利权)人: | 清华大学;内江京长检测技术有限公司;中国石油大学(北京) |
| 主分类号: | G01N27/904 | 分类号: | G01N27/904 |
| 代理公司: | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人: | 孙立波 |
| 地址: | 10008*** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 基于 磁化 脉冲 涡流 工件 缺陷 检测 装置 | ||
1.一种基于预磁化和扫频脉冲涡流的工件缺陷检测装置,其特征在于,包括:检测探头阵列、永磁体、通信模块、主控电路和上位机;
所述永磁体的有效磁化区域内设置交错排列的所述检测探头阵列;
所述永磁体与所述主控电路连接;
所述主控电路与所述上位机连接;
所述永磁体用于对待测工件进行局部饱和预磁化;
所述检测探头阵列用于对所述待测工件分别先后施加低频和高频的扫频脉冲信号以使所述待测工件生成响应信号,对所述响应信号进行采集并处理,将经过处理的响应信号通过通信模块传输到所述主控电路;
所述主控电路用于对接收到的经过处理的响应信号进行汇总,并将汇总后的响应信号发送至所述上位机;
所述上位机用于对接收到的响应信号进行分析,生成所述待测工件的缺陷尺寸和缺陷位置。
2.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述永磁体为两块相同的磁铁并排放置,所述有效磁化区域为两块磁铁中间的区域。
3.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,
所述检测探头阵列的每一组检测探头上设置涡流激励线圈和接收线圈;
所述涡流激励线圈用于生成所述扫频脉冲信号并施加到所述待测工件;
所述接收线圈用于对所述待测工件生成的所述响应信号进行采集。
4.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,
所述检测探头阵列上设置信号调理模块和数据采集模块,用于对所述响应信号进行处理。
5.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述通信模块为RS845通信模块,用于所述检测探头阵列与所述主控电路之间的通信连接,还用于所述主控电路与所述上位机之间的通信连接。
6.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述主控电路用于控制所述检测探头阵列协同工作。
7.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,还包括:存储设备;
所述存储设备用于接收所述主控电路将汇总后的响应信号,并进行存储。
8.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,还包括:电源管理模块;
所述电源管理模块用于对工件缺陷检测装置的供电电压进行管理。
9.根据权利要求3所述的装置,其特征在于,所述检测探头阵列还包括:信号跟随模块、峰值检波模块、信号调理模块和A/D转换模块;
所述接收线圈采集的所述响应信号进过所述信号跟随模块、所述峰值检波模块、所述信号调理模块和所述A/D转换模块的处理后转变为数字信号发送至所述主控电路。
10.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,
所述上位机具体用于,在接收到的响应信号中提取检测特征量,对所述检测特征量进行分析生成所述待测工件的缺陷尺寸信息和缺陷位置信息;
其中,提取的所述检测特征量为接收到的响应信号的拐点时间和峰值点,根据所述拐点时间判断所述待测工件的缺陷位置,根据所述峰值点确定所述待测工件的缺陷尺寸。
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