[实用新型]一种X射线材料成分测量传感装置

说明书

一种X射线材料成分测量传感装置，包括发射测量探头和接收测量探头，发射测量探头的发射口和接收测量探头的接收口位置相对；所述发射测量探头包括发射探头箱体及位于发射探头箱体内的第一屏蔽罩，所述屏蔽罩内设置有X射线管和为其供电的X射线高压电源，所述X射线管位于发射口处，所述X射线管外设置有散热管，所述屏蔽罩下方设置有涡流管，涡流管的冷气出口连接所述散热管，热气出口连接设置在发射口的第一面板吹风。本实用新型提供了一种X射线材料成份测量传感装置，可根据实际需求配置为检测定量或者灰分；本实用新型不同于放射源检测且检测为单方向，X射线由电源控制的X射线管组成的X射线发生器产生，断电立即不产生射线，安全性较高。

技术领域

本实用新型属于测量技术领域，涉及材料成分检测，具体涉及一种X射线材料成分测量传感装置。

背景技术

面幅材料的定量和灰分是重要的性能参数。定量测量常用的方式基于探测放射性同位素辐射β射线经过面幅材料的吸收强度变化或低定量非吸光材料基于近红外光经过面幅材料光谱强度变化来测量。灰分检测量常用的方式基于探测放射性同位素辐射X射线经过面幅材料的吸收强度变化来测量。由于环保和安全监管意识的加强，在某些地区放射性同位素的使用不被许可。放射性同位素使用到回收的整个过程还需要专人维护；需要一种在不许可放射性同位素且红外检测不可替代测量定量或者灰分的装置。

实用新型内容

为克服现有技术存在的技术缺陷，本实用新型公开了一种X射线材料成分测量传感装置。

本实用新型所述X射线材料成分测量传感装置，包括发射测量探头和接收测量探头，发射测量探头的发射口和接收测量探头的接收口位置相对；

所述发射测量探头包括发射探头箱体及位于发射探头箱体内的第一屏蔽罩，所述第一屏蔽罩内设置有X射线管和为其供电的X射线高压电源，所述X射线管位于发射口处，所述X射线管外设置有散热管，所述第一屏蔽罩下方设置有涡流管，涡流管的冷气出口连接所述散热管，热气出口连接设置在发射口的第一面板吹风。

优选的，所述接收测量探头包括接收探头箱体和位于接收探头箱体内的第二屏蔽罩、X射线电离室及电离室高压电源，所述接收测量探头还包括位于X射线电离室内的信号放大电路板，所述信号放大电路板与X射线电离室的输出电流端连接，所述X射线电离室位于第二屏蔽罩内，所述接收口处设置有第二面板吹风。

优选的，还包括包围所述X射线高压电源的第三屏蔽罩。

本实用新型提供了一种X射线材料成份测量传感装置，可根据实际需求配置为检测定量或者灰分；本实用新型不同于放射源检测，且检测为单方向， X射线由电源控制的X射线管组成的X射线发生器产生，断电立即不产生射线，安全性较高。

附图说明

图1为本实用新型所述X射线材料成分测量传感装置的一种具体实施方式示意图；

图中附图标记名称为：1-发射测量探头，2-接收测量探头，3-X射线高压电源，4-X射线管，5-X射线电离室， 6-信号放大电路板，7-信号控制电路板，8-涡流管，9-第一面板吹风，10-散热管，11-第一屏蔽罩，12-第二屏蔽罩，13-第三屏蔽罩，14-第二面板吹风，15-电离室高压电源。

具体实施方式

下面结合附图，对本实用新型的具体实施方式作进一步的详细说明。

本实用新型所述X射线材料成分测量传感装置，包括发射测量探头1和接收测量探头2，发射测量探头的发射口和接收测量探头的接收口位置相对；

所述发射测量探头包括发射探头箱体及位于发射探头箱体内的第一屏蔽罩11，所述第一屏蔽罩内设置有X射线管4和为其供电的X射线高压电源3，所述X射线管位于发射口处，所述X射线管外设置有散热管10，所述第一屏蔽罩下方设置有涡流管8，涡流管8的冷气出口连接所述散热管4，热气出口连接设置在发射口的第一面板吹风9。