[实用新型]激光器芯片的检测装置

说明书

本实用新型提供一种激光器芯片的检测装置，包括：送料机构，所述送料机构上设置有物料盒，所述送料机构能够带动所述物料盒移动，所述物料盒内放置有多个激光器器件；取料机构和检测机构，所述取料机构能够沿水平方向和竖直方向移动，以夹取所述激光器器件，并将所述激光器器件的每路芯片逐一与所述检测机构对正，所述检测机构能够自动对焦，以对所述激光器器件的每路所述芯片进行检测。本实用新型提供的激光器芯片的检测装置，通过设置送料机构、取料机构和检测机构，实现了激光器器件芯片背光面的自动检测，提高了生产效率，同时，也杜绝了人工目检漏检和错检的发生。

技术领域

本实用新型涉及激光器芯片检测技术领域，尤其涉及一种激光器芯片的检测装置。

背景技术

在光纤激光器制造过程中，激光器芯片的端面可能因为脏污、划痕、破损导致失效。由于激光器芯片端面尺寸较小，需在显微镜下放大才能看清，目前常用的方法是对芯片端面进行人工目检。即，将显微镜放置在一固定位置，显微镜后端接电荷耦合元件(chargecoupled device，CCD)相机，可在电脑上查看、保存目检后的图像，检测时将激光器放置在固定治具中，在治具下方制作一个二维调节架，通过手动调节的方式将激光器每一路芯片端面与显微镜对正，进行人工目检。

目前背光面目检仅仅应用于120W的激光器产品上，将120W激光器器件放置在工装上，操作员横向移动滑台，通过显微镜观察激光器里面芯片背光面是否存在受损、脏污、划痕的情况。该工序段采用人工放置物料，人工检测，且该检测工位只能适用120W激光器产品，不能兼容250W激光器产品。

目前，人工检测的方法主要存在人工检测效率较低，人眼长时间盯着显微镜，容易产生视觉疲劳，长时间目检会出现漏检或错检的情况发生。

实用新型内容

本实用新型提供一种激光器芯片的检测装置，用以解决现有技术中人工检测效率低，容易出现漏检或错检的缺陷。

本实用新型提供一种激光器芯片的检测装置，包括：送料机构，所述送料机构上设置有物料盒，所述送料机构能够带动所述物料盒移动，所述物料盒内放置有多个激光器器件；取料机构和检测机构，所述取料机构能够沿水平方向和竖直方向移动，以夹取所述激光器器件，并将所述激光器器件的每路芯片逐一与所述检测机构对正，所述检测机构能够自动对焦，以对所述激光器器件的每路所述芯片进行检测。

根据本实用新型提供的一种激光器芯片的检测装置，所述送料机构包括X轴模组，所述X轴模组上设置有所述物料盒，所述X轴模组能够带动所述物料盒在X轴方向移动。

根据本实用新型提供的一种激光器芯片的检测装置，所述物料盒内设置有治具，所述治具内放置有多个所述激光器器件。

根据本实用新型提供的一种激光器芯片的检测装置，所述治具上设置有所述激光器器件的芯片背光面朝向的标识。

根据本实用新型提供的一种激光器芯片的检测装置，所述取料机构包括：Y轴模组和Z轴模组，所述Z轴模组与所述Y轴模组垂直设置，所述Z轴模组可沿所述Y轴模组移动；夹爪，设置在所述Z轴模组，并能够在所述Z轴模组的带动下沿竖直方向上下移动。

根据本实用新型提供的一种激光器芯片的检测装置，所述夹爪包括一对相对设置的夹片，每个所述夹片包括依次连接的第一本体、第二本体和第三本体，所述第二本体分别与所述第一本体和所述第三本体垂直设置，其中，两个所述第三本体之间的距离大于两个所述第一本体之间的距离，每个所述第三本体的下部垂直设置有第一凸台，两个所述第一凸台位于两个所述第三本体之间。

根据本实用新型提供的一种激光器芯片的检测装置，所述夹爪包括一对相对设置的夹片，每个所述夹片包括相互垂直设置的第四本体和第五本体，每个所述第五本体的下部垂直设置有第二凸台，两个所述第二凸台位于两个所述第五本体之间。