[实用新型]一种晶圆载盘有效
申请号: | 202120558679.1 | 申请日: | 2021-03-18 |
公开(公告)号: | CN214753672U | 公开(公告)日: | 2021-11-16 |
发明(设计)人: | 刘仁杰;伍三忠;胡承;苏凯 | 申请(专利权)人: | 上海沪竹尚弘半导体科技有限公司;浙江中科尚弘离子装备工程有限公司 |
主分类号: | H01L21/673 | 分类号: | H01L21/673 |
代理公司: | 苏州润桐嘉业知识产权代理有限公司 32261 | 代理人: | 徐鸣 |
地址: | 201306 上海市浦东新区*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 晶圆载盘 | ||
1.一种晶圆载盘,其特征在于,包括:
载盘,所述载盘为一个规则的圆形盘状物;
硅片放置部,至少两个所述硅片放置部在所述载盘上;
固定部,所述固定部在每个硅片放置部的一端都有一个;
挡圈,挡圈位于硅片放置部上方,挡圈呈半包围状态,硅片放置在挡圈内;
中间托起部,中间托起部位于每个所述硅片放置部的正中心,所述中间托起部与所述硅片放置部等高。
2.如权利要求1所述的晶圆载盘,其特征在于,所述载盘厚度为1mm。
3.如权利要求1所述的晶圆载盘,其特征在于,所述硅片放置部厚度为0.8mm。
4.如权利要求1所述的晶圆载盘,其特征在于,所述固定部下方为中空结构。
5.如权利要求1所述的晶圆载盘,其特征在于,所述固定部中间有一开口。
6.如权利要求1所述的晶圆载盘,其特征在于,所述固定部分均匀排布有定位孔与螺丝孔。
7.如权利要求1所述的晶圆载盘,其特征在于,所述挡圈内圈为向内的斜面。
8.如权利要求3所述的晶圆载盘,其特征在于,所述硅片放置部为环形阵列。
9.如权利要求1所述的晶圆载盘,其特征在于,所述载盘的一端有一个缺口。
10.如权利要求1所述的晶圆载盘,其特征在于,所述硅片放置部为三段圆弧构成的圆形。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造