[实用新型]一种半导体指纹传感器LGA颗粒测试装置

说明书

本实用新型公开了一种半导体指纹传感器LGA颗粒测试装置，其可实现半导体指纹传感器LGA颗粒性能的准确测试，测试装置包括主控制器、电流表、芯片开关、测试点、假手指模，测试点包括电流测试点、主板测试点、假手指模测试点、图像通信测试点，第一电流测试点与电流表的负极连接，电流表的正极、主板测试点与主控制器连接，假手指模测试点通过图像通信测试点与主控制器连接，主控制器与上位机连接。

技术领域

本实用新型涉及半导体指纹传感器技术领域，具体为一种半导体指纹传感器LGA颗粒测试装置。

背景技术

指纹传感器是实现指纹自动采集的关键部件，按传感原理，可将其分为光学指纹传感器、半导体指纹传感器、半导体热敏传感器、超声波传感器和射频 RF传感器等，目前市面上常见的指纹传感器包括BS801C/2C/4C/6C/8C、 BS804C、BS808C，其中半导体指纹传感器主要包括电容式指纹传感器、电感式指纹传感器，使用该类指纹传感器获取指纹图像时，手指贴在其上与其构成电容(电感)的另一面，由于手指平面凸凹不平，凸点处和凹点处接触平板的实际距离不同，形成的电容/电感数值不同，根据这个原理将采集到的不同数值汇总，实现指纹采集。

现在市场上指纹系列的产品越来越广泛，出货量也在持续的增长，好的生产效率和品质保证是所有指纹厂商的竞争优势，也是各个厂商目前攻关的目标，因此在指纹传感器批量生产时，需要对其LGA颗粒(电容/电感)的性能进行测试，该性能主要包括触摸功能和芯片功能，触摸功能指手指触摸传感器时，手指指纹图像是否能显示在PC机上，芯片功能指传感器内的芯片开关打开后，电流是否正常。但现有技术中用于半导体指纹传感器LGA颗粒测试的装置较为缺乏，严重影响了半导体指纹传感器的成品质量和生产效率的提升。

实用新型内容

针对现有技术中存在的用于半导体指纹传感器LGA颗粒测试的装置较为缺乏，影响生产效率提升的问题，本实用新型提供了一种半导体指纹传感器 LGA颗粒测试装置，其可实现半导体指纹传感器LGA颗粒性能的准确测试，可提高生产效率。

为实现上述目的，本实用新型采用如下技术方案：

一种半导体指纹传感器LGA颗粒测试装置，包括主控制器、电流表、芯片开关、测试点、假手指模，其特征在于，所述测试点包括电流测试点、主板测试点、假手指模测试点、图像通信测试点，所述芯片开关与所述主控制器的VCC 端连接，所述电流测试点包括第一电流测试点、第二电流测试点，所述第一电流测试点与所述电流表的负极连接，所述第二电流测试点通过磁珠与所述电流表的负极连接，所述电流表的正极、主板测试点与所述主控制器连接，所述假手指模与所述假手指模测试点连接，所述假手指模测试点通过所述图像通信测试点与所述主控制器连接，所述主控制器与上位机连接。

其进一步特征在于，

所述测试点包括32个，分别为测试点1～测试点32；

所述第一电流测试点包括三个，分别为测试点2、测试点6、测试点8，所述第二电流测试点包括五个，分别为测试点1、测试点7、测试点16、测试点 22、测试点32；所述测试点1、测试点7、测试点16、测试点22、测试点32 连接所述磁珠的一端，所述磁珠另一端与所述测试点2、测试点6、测试点8 均连接所述电流表的输入端，所述电流表的输出端连接所述主控制器的1管脚；

所述假手指模测试点包括测试点4，所述假手指模连接所述测试点4；

所述图像通信测试点包括测试点10、11、31、13～26，所述测试点10、11、 31连接所述主控制器的2管脚，所述测试点13～26分别连接所述主控制器的 2～15管脚，用于实现所述半导体指纹传感器的图像信号与所述主控制器的通信；

所述测试点3、5、9、12、28、29、30为预留测试点；