[实用新型]一种具有自动回测功能的测试分选设备

说明书

本实用新型涉及一种具有自动回测功能的测试分选设备，其包括机架以及设于机架上的轨道机构、检测机构和送料机构和搬运机构，轨道机构包括入料轨道、合格轨道、次品轨道和回测轨道，入料轨道用于收集待测芯片，合格轨道用于收集合格芯片，次品轨道用于收集次品芯片，回测轨道用于收集需回测芯片，检测机构用于检测芯片，送料机构用于向检测机构传输待检芯片并将已检芯片传输至轨道机构的各料盘上，搬运机构用于搬运各个轨道上的料盘。该具有自动回测功能的测试分选设备能够全自动的对已完成检测的芯片进行回测，避免人员的干预对检测造成影响，检测效果好。

技术领域

本实用新型涉及芯片检测技术领域，特别是涉及一种具有自动回测功能的测试分选设备。

背景技术

芯片检测设备是一种可将人工检测芯片的动作机械化的设备，其检测效果稳定，检测效率高，能够实现芯片流水线式测量，同时培训设备操作人员时间短，操作人员可一人操作多台设备，操作步骤简单，大大节约人力资源，因此芯片检测设备迅速淘汰人工芯片检测工艺，成为芯片检测市场的主流。现有的芯片检测设备仅能够完成首测，芯片的二次回测需要操作人员手动完成，使用不便，也不利于提升检测效率。

实用新型内容

为解决上述技术问题，本实用新型的目的是提供一种具有自动回测功能的测试分选设备，具有可自动完成回测、使用方便等优点。

基于此，本实用新型提供了一种具有自动回测功能的测试分选设备，其包括机架以及设于所述机架上的轨道机构、检测机构和送料机构和搬运机构；

所述轨道机构包括入料轨道、合格轨道、次品轨道和回测轨道，所述入料轨道、所述合格轨道、所述次品轨道和所述回测轨道上均设有用于盛放芯片的料盘，所述入料轨道用于收集待测芯片，所述合格轨道用于收集合格芯片，所述次品轨道用于收集次品芯片，所述回测轨道用于收集需回测芯片，所述入料轨道、所述合格轨道、所述次品轨道和所述回测轨道的结构相同，所述入料轨道包括轨道架和动力组件，所述轨道架的两端设有限位块，所述动力组件包括同步电机和同步轮，所述同步电机通过同步带与所述同步轮相连接，所述料盘设于所述同步带上；

所述检测机构用于检测芯片；

所述送料机构用于向所述检测机构传输待检芯片并将已检芯片传输至所述轨道机构的各所述料盘上；

所述搬运机构用于搬运料盘，所述搬运机构包括第一导轨和抓手，所述抓手可沿所述第一导轨滑动，所述抓手包括第二导轨、固定抓和活动抓，所述第二导轨垂直于所述第一导轨，所述活动抓设于所述固定抓的顶部，所述固定抓穿设于所述第二导轨上并可沿所述第二导轨滑动。

本申请的一些实施例中，所述入料轨道还包括堆叠组件，所述堆叠组件包括立杆、支撑件和顶举件，立杆竖直设置若干根并包围所述料盘，所述顶举件设于立杆的下方，用于驱动所述料盘沿所述立杆竖直运动，所述支撑件设于所述轨道架上，位于所述立杆的旁侧。

本申请的一些实施例中，所述轨道架上设有传感器。

本申请的一些实施例中，所述轨道架上设有侧推夹紧气缸和后推夹紧气缸。

本申请的一些实施例中，所述轨道机构还包括空盘轨道，所述空盘轨道的结构与所述入料轨道相同，所述空盘轨道用于收集空料盘。

本实用新型实施例提供的一种具有自动回测功能的测试分选设备，与现有技术相比，其有益效果在于：