[发明专利]一种板卡器件检测方法、装置、设备及存储介质在审

专利信息
申请号: 202111594352.0 申请日: 2021-12-23
公开(公告)号: CN114240919A 公开(公告)日: 2022-03-25
发明(设计)人: 陈笠鸥 申请(专利权)人: 恒为科技(上海)股份有限公司
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06V10/44;G06V10/46
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 刘珂
地址: 201114 上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 板卡 器件 检测 方法 装置 设备 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种板卡器件检测方法,其特征在于,包括:

获取基准板卡图像和待测板卡图像;

对所述待测板卡图像进行透视变换,得到校正后的板卡图像;

对所述校正后的板卡图像和所述基准板卡图像进行特征点匹配;

通过特征点筛选算法检测出发生变更的板卡器件。

2.根据权利要求1所述的板卡器件检测方法,其特征在于,通过特征点筛选算法检测出发生变更的板卡器件,包括:

通过GMS算法定位错误的特征点匹配,以检测出发生变更的板卡器件。

3.根据权利要求1所述的板卡器件检测方法,其特征在于,对所述待测板卡图像进行透视变换,得到校正后的板卡图像,包括:

选择所述待测板卡图像的角点;

利用选择的所述角点换算出透视关系;

根据所述透视关系,将所述待测板卡图像拉伸压缩到与所述基准板卡图像相同的平面,并进行切割处理,得到校正后的板卡图像。

4.根据权利要求1所述的板卡器件检测方法,其特征在于,对所述校正后的板卡图像和所述基准板卡图像进行特征点匹配,包括:

通过特征点提取算法提取所述校正后的板卡图像和所述基准板卡图像的特征点并进行特征描述,得到描述子;

通过描述子匹配算法将所述校正后的板卡图像的描述子与所述基准板卡图像的描述子进行匹配,得到特征点匹配结果。

5.根据权利要求4所述的板卡器件检测方法,其特征在于,通过特征点提取算法提取所述校正后的板卡图像和所述基准板卡图像的特征点并进行特征描述,包括:

通过ORB算法提取所述校正后的板卡图像和所述基准板卡图像的特征点并进行特征描述。

6.根据权利要求4所述的板卡器件检测方法,其特征在于,通过描述子匹配算法将所述校正后的板卡图像的描述子与所述基准板卡图像的描述子进行匹配,包括:

通过BF算法遍历所有描述子,将所述校正后的板卡图像的描述子与所述基准板卡图像的描述子进行匹配。

7.一种板卡器件检测装置,其特征在于,包括:

图像获取模块,用于获取基准板卡图像和待测板卡图像;

图像校正模块,用于对所述待测板卡图像进行透视变换,得到校正后的板卡图像;

特征点匹配模块,用于对所述校正后的板卡图像和所述基准板卡图像进行特征点匹配;

特征点筛选模块,用于通过特征点筛选算法检测出发生变更的板卡器件。

8.根据权利要求7所述的板卡器件检测装置,其特征在于,所述特征点筛选模块,具体用于通过GMS算法定位错误的特征点匹配,以检测出发生变更的板卡器件。

9.一种板卡器件检测设备,其特征在于,包括处理器和存储器,其中,所述处理器执行所述存储器中存储的计算机程序时实现如权利要求1至6任一项所述的板卡器件检测方法。

10.一种计算机可读存储介质,其特征在于,用于存储计算机程序,其中,所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至6任一项所述的板卡器件检测方法。

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