[发明专利]一种TLC NAND闪存译码方法、装置、系统和介质在审
申请号: | 202111592435.6 | 申请日: | 2021-12-23 |
公开(公告)号: | CN114283866A | 公开(公告)日: | 2022-04-05 |
发明(设计)人: | 王颀;于晓磊;李前辉;杨柳;何菁;王先良;张博;霍宗亮;叶甜春 | 申请(专利权)人: | 中国科学院微电子研究所 |
主分类号: | G11C16/04 | 分类号: | G11C16/04 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 柳虹 |
地址: | 100029 北京市朝阳*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 tlc nand 闪存 译码 方法 装置 系统 介质 | ||
1.一种TLC NAND闪存译码方法,其特征在于,包括:
采用读电压对TLC NAND闪存第一逻辑页进行多次读操作得到多次读取结果;
将所述读取结果之间进行同或得到初始译码结果;
根据所述初始译码结果得到TLC NAND所述第一逻辑页的各个分布态分别对应的初始LLR值;
根据所述多次读取结果对所述初始LLR值进行修正以得到修正LLR值;
根据所述修正LLR值对所述TLC NAND闪存进行译码。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述多次读取结果对所述初始LLR值进行修正以得到修正LLR值,包括:
获取所述多次读取结果对应的各个分布态的位置信息;
根据所述位置信息对所述第一LLR值进行修正以得到修正LLR值。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述TLC NAND闪存中的一个物理页包括下页、中页和上页三个逻辑页;所述TLC NAND闪存包括E、P1-P7八个分布态;
当所述第一逻辑页为下页时;所述采用读电压对TLC NAND闪存第一逻辑页进行多次读操作得到多次读取结果,包括:
在所述E态和所述P1态之间采用第一读电压进行读操作得到第一读取结果;在所述P4态和所述P5态之间采用第五读电压进行读操作得到第五读取结果。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述多次读取结果对所述初始LLR值进行修正以得到修正LLR值,和,采用读电压对TLC NAND闪存第二逻辑页进行多次读操作得到多次读取结果,并行进行。
5.一种TLC NAND闪存译码装置,其特征在于,包括:
第一逻辑页读单元,用于采用读电压对TLC NAND闪存第一逻辑页进行多次读操作得到多次读取结果;
同或单元,用于将所述读取结果之间进行同或得到初始译码结果;
初始LLR值获取单元,用于根据所述初始译码结果得到TLC NAND所述第一逻辑页的各个分布态分别对应的初始LLR值;
修正LLR值获取单元,用于根据所述多次读取结果对所述初始LLR值进行修正以得到修正LLR值;
译码单元,用于根据所述修正LLR值对所述TLC NAND闪存进行译码。
6.根据权利要求5所述的装置,其特征在于,所述修正LLR值获取单元,包括:
位置信息获取单元,用于获取所述多次读取结果对应的各个分布态的位置信息;
修正LLR值获取子单元,用于根据所述位置信息对所述第一LLR值进行修正以得到修正LLR值。
7.根据权利要求5所述的装置,其特征在于,所述TLC NAND闪存中的一个物理页包括下页、中页和上页三个逻辑页;所述TLC NAND闪存包括E、P1-P7八个分布态;
当所述第一逻辑页为下页时;所述第一逻辑页读单元包括:
第一读单元,用于在所述E态和所述P1态之间采用第一读电压进行读操作得到第一读取结果;
第五读单元,用于在所述P4态和所述P5态之间采用第五读电压进行读操作得到第五读取结果。
8.根据权利要求5所述的装置,其特征在于,所述装置还包括:
第二逻辑页读单元,用于采用读电压对TLC NAND闪存第二逻辑页进行多次读操作得到多次读取结果;
并行运行单元,用于使所述修正LLR值获取单元和所述第二逻辑页读单元并行运行。
9.一种TLC NAND闪存译码系统,其特征在于,包括:
存储器,用于存储计算机程序;
处理器,用于执行所述计算机程序时实现如权利要求1-4任意一项所述TLC NAND闪存译码方法的步骤。
10.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序,所述计算机程序被处理执行时实现如权利要求1-4任意一项所述TLC NAND闪存译码方法的步骤。
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