[发明专利]图像偏移的校正方法、校正装置、存储介质及电子设备

说明书

本申请公开了一种图像偏移的校正方法、校正装置、存储介质及电子设备。该校正方法包括：获取至少一个旋转角度下的模板梯度图像，其中，每个旋转角度下的模板梯度图像包含模板图像的检测区域中预定像素点的梯度方向；获取待测图像，并确定待测图像的待测梯度图像；将模板梯度图像覆盖于待测梯度图像上，并对模板梯度图像进行旋转和平移，以将待测梯度图像与模板梯度图像进行对比，从而得到所有旋转角度下以及所有平移位置下的对比结果；根据所有旋转角度下以及所有平移位置下的对比结果确定模板梯度图像与待测梯度图像的偏移量；根据偏移量校正检测区域与待测图像之间的偏差。本申请有效提高图像处理的效率，能够适应高通量的检测场景。

技术领域

本申请涉及计算机技术领域，具体地涉及一种图像偏移的校正方法、校正装置、存储介质及电子设备。

背景技术

通常，器件被生产制造出来后，需要在出厂前进行缺陷的检测，以剔除质量有瑕疵的器件，器件的缺陷检测一般需要借助专门的检测设备来完成。随着科技的不断发展，各种器件的结构复杂度、以及器件的生产能力也在不断提升，相应地，也就对器件的检测设备提出了更高的要求。

目前，一些图像处理算法会使用感兴趣区域(region of interest，ROI)和模板图像，通过在模板图像中绘制ROI来勾勒出需要检测的图像区域，在检测时将模板图像的ROI放置到待测图像中的对应位置，以进行检测。但是在视觉检测设备中使用ROI和模板图进行图像处理时，可能出现待测器件的姿态与模板图像中标准器件的姿态存在偏差的情况。例如，在模板图像中，标准器件位于图像的中心，器件的边缘与模板图像边界平行；但是在待测图像中，因为器件传送过程、器件姿态归置过程等很多因素，都可能会导致待测器件并不位于待测图像的中心，而且器件可能会有一定角度偏差，其边缘并不与模板图像边界平行。此时，如果直接将模板图中的ROI放置到待测图像中，那么模板图中ROI覆盖器件部位与待测图中ROI覆盖的器件部位是不同的，在这种情况下，如果基于待测图中的ROI进行图像处理，必然会出现误差。为了避免这种误差，就需要在对待测图放置ROI之前，确定并修正待测图中器件与模板图中标准器件在各自图像中的位置偏移，以便在待测图中放置ROI时修正该位置偏移。

在现有技术的很多生产测试场景中，对于器件检测的速率(通量)有较高的要求，这就要求算法在很短的时间内修正上述位置偏移并完成对一张图像的处理，以便在下料前就确定器件为良品和次品，从而将器件收纳到正确的料盒中。虽然近几年的图像处理技术可以完成偏移校正的工作，但是这些已有算法普遍存在计算量大、占用资源多、耗时长的问题，难以适用于高通量视觉检测的场景。

发明内容

本申请实施例的目的是提供一种图像偏移的校正方法、校正装置、存储介质及电子设备，用以解决现有技术中，图像偏移校正难以适用于高通量视觉检测的场景的技术问题。

为了实现上述目的，本申请第一方面提供一种图像偏移的校正方法，该校正方法包括：

获取至少一个旋转角度下的模板梯度图像，其中，每个旋转角度下的模板梯度图像包含模板图像的检测区域中预定像素点的梯度方向；

获取待测图像，并确定待测图像的待测梯度图像；

将模板梯度图像覆盖于待测梯度图像上，并对模板梯度图像进行旋转和平移，以将待测梯度图像与模板梯度图像进行对比，从而得到所有旋转角度下以及所有平移位置下的对比结果；

根据所有旋转角度下以及所有平移位置下的对比结果确定模板梯度图像与待测梯度图像的偏移量；

根据偏移量校正检测区域与待测图像之间的偏差。

在本申请实施例中，确定待测图像的待测梯度图像包括：

对于待测图像中目标像素点的梯度方向，其中，对于每个目标像素点，根据该目标像素点与所有相邻像素点的灰度，确定该目标像素点的目标梯度方向。