[发明专利]图像偏移的校正方法、校正装置、存储介质及电子设备

权利要求书

1.一种图像偏移的校正方法，其特征在于，所述校正方法包括：

获取至少一个旋转角度下的模板梯度图像，其中，每个旋转角度下的所述模板梯度图像包含模板图像的检测区域中预定像素点的梯度方向；

获取待测图像，并确定所述待测图像的待测梯度图像；

将所述模板梯度图像覆盖于所述待测梯度图像上，并对所述模板梯度图像进行旋转和平移，以将所述待测梯度图像与所述模板梯度图像进行对比，从而得到所有旋转角度下以及所有平移位置下的对比结果；

根据所有旋转角度下以及所有平移位置下的对比结果确定所述模板梯度图像与所述待测梯度图像的偏移量；

根据所述偏移量校正所述检测区域与所述待测图像之间的偏差。

2.根据权利要求1所述的校正方法，其特征在于，所述确定所述待测图像的待测梯度图像包括：

对于所述待测图像中目标像素点的梯度方向，其中，对于每个目标像素点，根据该目标像素点与所有相邻像素点的灰度，确定该目标像素点的目标梯度方向。

3.根据权利要求2所述的校正方法，其特征在于，所述根据该目标像素点与所有相邻像素点的灰度，确定该目标像素点的梯度方向包括：

对于所述每个目标像素点，确定与该目标像素点相邻且与该目标像素点灰度差异最大的相邻像素点，根据该相邻像素点与所述目标像素点的位置确定该目标像素点的梯度方向。

4.根据权利要求2所述的校正方法，其特征在于，所述将所述模板梯度图像覆盖于所述待测梯度图像上，并对所述模板梯度图像进行旋转和平移，以将所述待测梯度图像与所述模板梯度图像进行对比，从而得到所有旋转角度以及所有平移位置下的对比结果包括：

将当前旋转角度下的所述模板梯度图像覆盖于所述待测梯度图像上；

平移所述模板梯度图像，并得到所述模板梯度图像在初始位置和所有平移位置中每个位置对应的对比结果，其中，对于每个位置，根据当前旋转角度下所述模板梯度图像中所有所述预定像素点与对应目标像素点的目标梯度方向之间的匹配度，得到匹配度评分；

将所述模板梯度图像进行旋转，重复前一步骤，直至得到各个旋转角度下每个位置的匹配度评分。

5.根据权利要求2所述的校正方法，其特征在于，所述将所述模板梯度图像覆盖于所述待测梯度图像上，并对所述模板梯度图像进行旋转和平移，以将所述待测梯度图像与所述模板梯度图像进行对比，从而得到所有旋转角度以及所有平移位置下的对比结果包括：

将当前平移位置下的所述模板梯度图像覆盖于所述待测梯度图像上；

对所述模板梯度图像进行旋转，并得到所述模板梯度图像在初始角度和所有旋转后角度中每个角度对应的对比结果，其中，对于每个角度，根据该角度下所述模板梯度图像中所有所述预定像素点与对应目标像素点的目标梯度方向之间的匹配度，得到匹配度评分；

将所述模板梯度图像进行平移，重复前一步骤，直至以得到各个平移位置下每个角度的匹配度评分。

6.根据权利要求4或5所述的校正方法，其特征在于，所述根据所有旋转角度下以及所有平移位置下的对比结果确定所述模板梯度图像与所述待测梯度图像的偏移量包括：

获取所有匹配度评分；

将所有匹配度评分中最高的匹配度评分所对应的旋转角度和平移位置，确定为所述模板梯度图像与所述待测梯度图像的偏移量。

7.根据权利要求1所述的校正方法，其特征在于，所述根据所述偏移量校正所述检测区域与所述待测图像之间的偏差包括：

根据所述偏移量移动所述检测区域，以使所述检测区域与所述待测图像的对应区域对齐。

8.根据权利要求1所述的校正方法，其特征在于，所述校正方法还包括：

预先在所述模板图像中标记检测区域；

在所述至少一个旋转角度下，确定所述检测区域中所述预定像素点的梯度方向，以得到所述模板梯度图像。

9.根据权利要求1-5、7、8中任一项所述的校正方法，其特征在于，所述特征像素点为所述检测区域的边缘像素点。